一种高速多模光模块的耦合容差测试系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及一种高速多模光模块的耦合容差测试系统，第一微调架的基座上固定具有光发射芯片以及光接收芯片的PCB板，第一微调架的活动架上固定第一多通道光纤阵列，第一多通道光纤阵列与第一多通道光源相连，第二微调架的活动架上固定第二多通道光纤阵列以及透镜，第二多通道光纤阵列与第一多通道光功率计相连，透镜经MT插芯接第二多通道光源或第二多通道光功率计，第一多通道光纤阵列的通道间距比第二多通道光纤阵列的通道间距大。有益效果为：用两个手动微调架替代自动耦合机，便可实现高速多模光模块的耦合容差测试，有效降低成本，只用通过改变两个多通道光纤阵列的间距差即可调整测试精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光模块，具体涉及一种高速多模光模块的耦合容差测试系统及方法。

技术介绍

1、传统高速多模光模块由于速率越来越高，为了保证高频性能所以需要降低芯片结电容，导致光芯片（包含：光接收芯片和光发射芯片），比如：光接收芯片（光探测器）的光敏面越来越小，耦合越来越困难，耦合容差越来越小（主要是x/y的水平方向容差越来越小），因此，在研发阶段需要测试透镜水平方向的耦合容差（批量生产时要抽测），目前的方法为采用昂贵的自动耦合机测试，自动耦合机测试有两个缺点：

2、1）价格高，通常不会配给研发室实验室用;

3、2）自动耦合机电机步进有间隙和空回现象，影响测试数据精度。

技术实现思路

1、本专利技术所要解决的技术问题是提供一种高速多模光模块的耦合容差测试系统及方法，以克服上述现有技术中的不足。

2、本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种高速多模光模块的耦合容差测试系统，包括：并排布置的第一微调架以及第二微调架，第一微调架的基座上固定具有至少一个光发射芯片以及至少一个光接收本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种高速多模光模块的耦合容差测试系统，其特征在于，包括：并排布置的第一微调架（1）以及第二微调架（2），所述第一微调架（1）的基座（110）上固定具有至少一个光发射芯片（3）以及至少一个光接收芯片（4）的PCB板（5），所述第一微调架（1）的活动架上固定第一多通道光纤阵列（6），所述第一多通道光纤阵列（6）与第一多通道光源（7）相连，所述第二微调架（2）的活动架上固定同步移动的第二多通道光纤阵列（8）以及透镜（9），所述第二多通道光纤阵列（8）与第一多通道光功率计（10）相连，所述透镜（9）经MT插芯（11）接第二多通道光源（12）或第二多通道光功率计（13），所述第一多通道光纤阵列...

【技术特征摘要】

1.一种高速多模光模块的耦合容差测试系统，其特征在于，包括：并排布置的第一微调架（1）以及第二微调架（2），所述第一微调架（1）的基座（110）上固定具有至少一个光发射芯片（3）以及至少一个光接收芯片（4）的pcb板（5），所述第一微调架（1）的活动架上固定第一多通道光纤阵列（6），所述第一多通道光纤阵列（6）与第一多通道光源（7）相连，所述第二微调架（2）的活动架上固定同步移动的第二多通道光纤阵列（8）以及透镜（9），所述第二多通道光纤阵列（8）与第一多通道光功率计（10）相连，所述透镜（9）经mt插芯（11）接第二多通道光源（12）或第二多通道光功率计（13），所述第一多通道光纤阵列（6）与所述第二多通道光纤阵列（8）平行且相对分布，所述第一多通道光纤阵列（6）的通道间距比所述第二多通道光纤阵列（8）的通道间距大。

2.根据权利要求1所述的一种高速多模光模块的耦合容差测试系统，其特征在于，所述第一多通道光纤阵列（6）采用蚀刻工艺制作，所述第二多通道光纤阵列（8）采用蚀刻工艺制作。

【专利技术属性】
技术研发人员：方文银，彭开盛，
申请(专利权)人：武汉钧恒科技有限公司，
类型：发明
国别省市：