【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于存储，特别涉及一种存储芯片的测试方法及测试装置。
技术介绍
1、固态存储器是一种新型的存储设备，使用固态存储器制成可以制成多种存储芯片，例如包括固态硬盘(solid state disk，ssd)，嵌入式多媒体存储卡（embedded multimedia card，emmc），通用闪存存储(universal flash storage，ufs)，安全卡（securedigital，sd）、usb闪存盘(usb flash disk)等存储芯片。而这些存储芯片被应用在不同的主机产品上，例如电视机或显示器等。由于不同的存储芯片需要满足不同的传输协议，故不同的存储芯片具有不同的上电时间，而主机产品也有开机时间的需求。
2、但是主机的开机时间和存储芯片的上电时间有差异，若存储芯片上电时间过长，则主机产品无法开机。因而在存储芯片出厂前，需要设置一个最大上电时间。在获取存储芯片的最大上电时间时，将存储芯片放置在设备平台上重复进行重启测试，并验证是否通过测试，但这种测试方法需要大量的人力物力，且获得的最大上电时间无法覆盖
【技术保护点】
1.一种存储芯片的测试方法，其特征在于，至少包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，所述存储芯片初始化的时间小于初始预设时间。
3.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，在测试时，依据所述存储芯片的容量和使用情况选取所述存储芯片，以降低所述存储芯片扫描闪存数据恢复丢失的映射关系的时间。
4.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，在测试之前，关闭所述存储芯片在上电时删除扫描闪存数据恢复丢失的映射关系的功能。
5.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方...
【技术特征摘要】
1.一种存储芯片的测试方法，其特征在于，至少包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，所述存储芯片初始化的时间小于初始预设时间。
3.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，在测试时，依据所述存储芯片的容量和使用情况选取所述存储芯片，以降低所述存储芯片扫描闪存数据恢复丢失的映射关系的时间。
4.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，在测试之前，关闭所述存储芯片在上电时删除扫描闪存数据恢复丢失的映射关系的功能。
5.根据权利要求1所述的一种存储芯片的测试方法，其特征在于，所述预设时间通过以下公式获取：
6.根据权利要求1所述的一种...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈文涛，许建强，苏忠益，
申请(专利权)人：合肥康芯威存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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