【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种自由曲面测量采样方法，特别提供了一种基于特征的自由曲面测量采样方法，属于数字化制造与几何测量。
技术介绍
1、自由曲面的高效精准测量一直是测量领域的关键与难点问题。在一般的接触式测量中，需要首先进行曲面采样，然后再控制测头在采样点处与曲面接触以获得对应的实测坐标值。曲面采样获得的采样点数量与分布直接影响到实际测量过程的精度与效率。因此，现有的曲面方法设计主要是通过合理的设计采样点数量与分布使测量过程达到精度与效率的统一优化。
2、当前的曲面方法主要包括盲采样、以及基于加工误差的采样、基于重构精度的采样、基于曲面几何的采样等自适应加工方法，盲采样方法计算简单但通常不具备采样精度优势，基于加工误差的采样方法虽然考虑了实际加工过程存在的偏差，但是由于在不同设备上实施效果很难统一，基于重构精度的方法将曲面采样方法与重构方法结合，但是该类方法通常需要复杂的迭代计算，基于曲面几何的方法的优势在于考虑了曲面的几何形状，能够依据不同的曲面几何特点优化采样点数量与分布，但现有方法对曲面的几何信息利用还不够充足，需要进一步挖掘...
【技术保护点】
1.一种基于特征的自由曲面测量采样方法，其特征在于：包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的基于特征的自由曲面测量采样方法，其特征在于：所述特征采样法包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的基于特征的自由曲面测量采样方法，其特征在于：所述步骤一具体为：
4.根据权利要求3所述的基于特征的自由曲面测量采样方法，其特征在于：所述步骤二具体为：
5.根据权利要求4所述的基于特征的自由曲面测量采样方法，其特征在于：所述步骤三具体为：
6.根据权利要求1所述的基于特征的自由曲面测量采样方法，其特征在于：所述S1中的划分
【技术特征摘要】
1.一种基于特征的自由曲面测量采样方法，其特征在于：包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的基于特征的自由曲面测量采样方法，其特征在于：所述特征采样法包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的基于特征的自由曲面测量采样方法，其特征在于：所述步骤一具体为：
4.根据权利要求3所述的基于特征的自由曲面测量采样方法，其特征在于：所述步骤二具体为：
5.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙震，吴涛，张乐毅，孙志宏，睢鹏，杨飞，侯秋林，周宏根，李国超，
申请(专利权)人：江苏科技大学，
类型：发明
国别省市：
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