无损检测设备制造技术

本技术公开一种无损检测设备，包括安装机架、承载台、发射装置和探测装置；探测装置包括第一平移机构、第二平移机构、第一升降机构和探测源本体，第一平移机构设置于安装机架；第二平移机构与第一平移机构相连接，第一平移机构可驱动第二平移机构沿第一方向平移；第二平移机构与第一升降机构相连接，第二平移机构可驱动第一升降机构沿第二方向平移；探测源本体与第一升降机构相连接，第一升降机构可驱动探测源本体沿第三方向升降；其中，第一方向、第二方向和第三方向三者之间相互垂直。上述方案能够解决无损检测设备的检测范围较小的问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及x射线检测，尤其涉及一种无损检测设备。

技术介绍

1、无损检测设备用于检测产品不良位置，其广泛应用于各种电子产品检测领域。无损检测设备是利用x射线对不同密度物质的穿透能力不一样，故而通过所接收到的强弱不同的x光转化成可视的明暗不同的图像，再经过软件进行调整图像模板对比，从而找出产品的不良位置。

2、相关技术中，无损检测设备包括安装架、载物台、射线发射源和探测器，载物台、射线发射源和探测器均安装于安装架上。载物台用于承载待检测的产品。射线发射源发射出x光线，x光线穿过待检测的产品时能够被探测器接收，从而生成检测图像，根据检测图像确定产品的不良位置。

3、然而，相关技术中的无损检测设备受到探测器接收范围的影响，其无损检测设备可进行的最大检测面积仅有设备总宽度的百分之三十左右。因此相关技术中的无损检测设备的检测面积较小。

技术实现思路

1、本技术公开一种无损检测设备，以解决无损检测设备的检测范围较小的问题。

2、为了解决上述问题，本技术采用下述技术方案：

3本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种无损检测设备，其特征在于，包括安装机架(100)、承载台(200)、发射装置(300)和探测装置(400)；

2.根据权利要求1所述的无损检测设备，其特征在于，所述探测源本体(440)还包括位置检测件(444)，所述位置检测件(444)设置于所述基座(441)，所述位置检测件(444)用于检测所述探测器(443)的转动位置。

3.根据权利要求2所述的无损检测设备，其特征在于，所述位置检测件(444)包括光线发射源和光线接收部，所述探测器(443)连接有反射件；所述反射件可用于接收所述光线发射源发射的光线，所述光线接收部可用于接收所述反射件反射的光线。...

【技术特征摘要】

1.一种无损检测设备，其特征在于，包括安装机架(100)、承载台(200)、发射装置(300)和探测装置(400)；

2.根据权利要求1所述的无损检测设备，其特征在于，所述探测源本体(440)还包括位置检测件(444)，所述位置检测件(444)设置于所述基座(441)，所述位置检测件(444)用于检测所述探测器(443)的转动位置。

3.根据权利要求2所述的无损检测设备，其特征在于，所述位置检测件(444)包括光线发射源和光线接收部，所述探测器(443)连接有反射件；所述反射件可用于接收所述光线发射源发射的光线，所述光线接收部可用于接收所述反射件反射的光线。

4.根据权利要求1所述的无损检测设备，其特征在于，所述探测源本体(440)还包括角接触轴承座(445)和旋转轴，所述角接触轴承座(445)设置于所述基座(441)，所述旋转轴与所述角接触轴承座(445)转动连接，所述驱动电机(442)通过所述旋转轴与所述探测器(443)连接，所述探测器(443)绕所述旋转轴的中心轴线转动。

5.根据权利要求4所述的无损检测设备，其特征在于，所述探测源本体(440)还包括减速器(446)和联轴器(447)，所述减速器(446)设置于所述基座(441)，所述驱动电机(442)与所述减速器(446)相连接，所述减速器(446)通过所述联轴器(447)与所述旋转轴相连接。

6.根据权利要求4所述的无损检测设备，其特征在于，所述旋转轴的中心轴线所在的平面与所述第一方向(y)和第二方向(x)所形成的平面相平行，且所述旋转轴的中心轴线的延伸方向与所述第一方向(y)或所述第二方向(x)的延伸方向相同。

7.根据权利要求1所述的无损检测设备，其特征在于，所述第一平移机构(410)包括第一滑轨(411)、第二滑轨(412)和至少一个驱动源，所述第一滑轨(411...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘宇豪，徐文杰，赵兵，宁世康，
申请(专利权)人：杭州睿影科技有限公司，
类型：新型
国别省市：