一种半导体激光器自动综合测试装置制造方法及图纸

技术编号:42247383 阅读:17 留言:0更新日期:2024-08-02 13:57
本技术公开了一种半导体激光器自动综合测试装置,包括功率检测模块、发散角测试模块和光谱检测模块。功率检测模块包括功率计,以用于测试待测半导体激光器在预定电流下的输出功率,并将接收到的部分激光反射至光谱检测模块;发散角测试模块利用两个分别相对于激光光束沿水平方向和垂直方向运动的光电传感器分别测试所述输出激光的水平发散角和垂直发散角;光谱检测模块用于接收自功率计反射来的激光并对其光谱进行检测;本申请通过模块化的设计实现了对半导体激光器各种特性参数的测试,同时各项数据的全自动测算也使得测试的准确性和测试效率大大提高。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于半导体激光器测试,尤其涉及一种半导体激光器自动综合测试装置


技术介绍

1、由于半导体激光器具有电光转化效率高、可靠性高以及体积小寿命长等优点,目前已经成为光电行业中最具有发展前途的研究方向之一,且常常运用于光纤通信、激光医疗以及机械加工等领域。

2、通常半导体激光器的性能参数主要包括功率、光谱、温度、光束发散角等,通过对上述参数的测试及表征,可以判断出一个半导体激光器特性的高低。现有技术中通常是人工调节电流以及人工记录光功率和光谱等信息,该方案中半导体激光器特性测试的效率较低;且现有技术中的半导体激光器测试装置较为单一,仅能对光谱以及光功率其中的一种进行测试或两种进行测试,无法做到光谱、光功率、发散角及待测半导体激光器实时温度的测试。

3、基于此,针对上述现有技术中人工操作工作效率较低以及激光器测试特性单一的问题,有必要设计一种新的半导体激光器测试装置。


技术实现思路

1、本申请的目的在于针对现有技术中的不足之处,提供一种半导体激光器自动综合测试装置,以实现半导体激光器的多本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体激光器自动综合测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还具有防尘腔,待测半导体激光器(101)的输出光纤设置于所述防尘腔内部。

3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括机架(103),所述机架(103)被分隔为相互连通的工作区域和测试区域,所述防尘腔设置于所述工作区域,所述功率检测模块(400)和所述发散角测试模块设置于所述测试区域,所述输出光纤中的光束自所述工作区域朝向所述测试区域发射。

4.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括气缸(301)...

【技术特征摘要】

1.一种半导体激光器自动综合测试装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还具有防尘腔,待测半导体激光器(101)的输出光纤设置于所述防尘腔内部。

3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括机架(103),所述机架(103)被分隔为相互连通的工作区域和测试区域,所述防尘腔设置于所述工作区域,所述功率检测模块(400)和所述发散角测试模块设置于所述测试区域,所述输出光纤中的光束自所述工作区域朝向所述测试区域发射。

4.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括气缸(301)、防护罩(303)以及与所述气缸(301)相连接的挡光罩(302),所述防护罩(303)固定设置,所述气缸(301)用于驱动所述挡光罩(302)沿直线方向移动,以带动所述挡光罩(302)扣合于所述防护罩(303)上,形成所述防尘腔。

5.根据权利要求4所述的测试装置,其特征在于,所述测试装置还包括设于所述防尘腔内的光纤夹(310),所述光纤夹(310)用于固定所述输出...

【专利技术属性】
技术研发人员:蒋峰党建堂涂继巍赵建华李晓斌
申请(专利权)人:苏州创鑫激光科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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