【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于微波、毫米波材料电磁参数测试，具体涉及一种用于曲面材料介电性能测试的装置。
技术介绍
1、介质透波材料被广泛应用于电子通信、雷达探测、生物医学等军用与民用行业，而各种电子设备的性能在一定程度上受到介质材料性能的影响，因此准确测量介质材料的电磁参数对于实现电子设备的高性能指标要求具有重要意义。在实际的应用过程中，常用复介电常数来对介质材料的介电性能进行描述。目前，测量材料复介电常数的方法主要有网络参数法和谐振法，但这些方法一般是针对平板材料的，待测样品大多数情况是以平面的形式出现，即测试时要求待测样品是表面光滑的平板。但是在一些特殊情况下，透波材料会以非平面的形式出现，可能会出现弧面、球面、椭球面等不同具有凹凸面几何形状的物体。例如在现代天线系统中，为保护各种雷达避免天线受到高温、冰冻、强风、酸雨和暴晒等各类恶劣天气的破坏性影响，通常会使用由曲面透波材料做成天线罩对雷达天线进行保护。而天线罩的电性能如瞄视误差、电厚度等均受到天线罩材料的复介电常数影响。因此在实际的工程应用中，实现对非平面物体，特别是具有凹凸面几何形状的物体的...
【技术保护点】
1.一种用于曲面材料介电性能的测试装置，其特征在于，包括滚珠固定单元、终端开路同轴谐振腔、耦合环激励装置、耦合环接收装置和夹持部；
2.如权利要求1所述的用于曲面材料介电性能的测试装置，其特征在于，所述终端开路同轴谐振腔的开路端渐变，开口直径尺寸应尽可能小，从而缩小电磁波信号的测量面积，提升测量精度。
3.如权利要求1所述的用于曲面材料介电性能的测试装置，其特征在于，所述夹持部包括谐振腔支撑单元、万向阻尼关节及支撑单元和机械臂；
4.如权利要求1所述的用于曲面材料介电性能的测试装置，其特征在于，所述待测材料为曲率半径不小于10cm的
<...【技术特征摘要】
1.一种用于曲面材料介电性能的测试装置，其特征在于，包括滚珠固定单元、终端开路同轴谐振腔、耦合环激励装置、耦合环接收装置和夹持部；
2.如权利要求1所述的用于曲面材料介电性能的测试装置，其特征在于，所述终端开路同轴谐振腔的开路端渐变，开口直径尺寸应尽可能小，从而缩小电磁波信号的测量面积，提升测量精度。
3.如权利要求1所述的用于曲面材料介电性能的测试装置，其特征在于，所述夹持部包括谐振腔支撑单元、万向阻尼关节及支撑单元和机械臂；
4.如权利要求1所述的用于曲面材料介电性能的测试装置，其特征在于，所述待测材料为曲率半径不小于10cm的透波材料。
5.如权利要求1所述的用于曲面材料介电性能的测试装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：高冲，李冬昊，张凯博，郑佳浩，朱辉，牛雪，张云鹏，李恩，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：
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