芯片设计工具中布局质量评估方法及装置制造方法及图纸

技术编号:42225715 阅读:18 留言:0更新日期:2024-08-02 13:43
本申请实施例提供一种芯片设计工具中布局质量评估方法及装置,该方法包括:在执行布线之前,根据n个模块中的每个模块内部的多个宏单元的布局结果确定每个模块的m个质量指标的值,m个质量指标用于反映多个宏单元之间的时序信息或拥塞信息;根据m个质量指标的值输出每个模块的布局质量的评估结果。本申请的方案能够缩短评估周期,有利于提高芯片布局的迭代优化的效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请实施例涉及芯片设计工具,更具体地,涉及电子设计自动化中芯片设计工具中布局质量评估方法及装置


技术介绍

1、电子设计自动化(electronic design automation,eda)是指利用计算机软件等工具来完成集成电路芯片的功能设计、综合、验证、物理设计等流程的设计方式。其中,在物理设计阶段中,高质量的电路布局是芯片设计成功的先决条件。在芯片设计进入物理设计流程后,依次需要经过布局规划、宏单元摆放、标准单元摆放、时钟树综合以及布线等多个阶段。其中,布局规划是影响电路布局的质量的关键因素之一。

2、在布局规划阶段通常只能基于线长和散热指标进行优化,但这些指标无法准确反映芯片的性能、功耗、面积(performance,power,area,ppa)。为了解决上述问题,业内的方案在布局规划后进行宏单元摆放、标准单元摆放、时钟树综合以及布线等操作之后,评估ppa,然后基于该评估结果实现布局规划的迭代优化。然而,该方式的步骤繁琐,评估周期较长,导致布局规划的迭代周期较长,影响了布局规划的迭代优化效率,从而降低了芯片设计的效率。

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【技术保护点】

1.一种芯片设计工具中布局质量评估方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述评估结果用于优化所述n个模块中至少一个模块的布局规划。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述n个模块包括第一模块,所述评估结果包括指示信息,其中,

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述m个质量指标的值输出所述每个模块的布局质量的评估结果,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述每个模块的布局质量评分为所述每个模块的q个质量指标的值的加权平均值。

6.根据权利要求4或5...

【技术特征摘要】

1.一种芯片设计工具中布局质量评估方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述评估结果用于优化所述n个模块中至少一个模块的布局规划。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述n个模块包括第一模块,所述评估结果包括指示信息,其中,

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述m个质量指标的值输出所述每个模块的布局质量的评估结果,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述每个模块的布局质量评分为所述每个模块的q个质量指标的值的加权平均值。

6.根据权利要求4或5所述的方法,其特征在于,所述评估结果还包括所述n个模块的布局质量排序,所述n个模块的布局质量排序基于所述每个模块的布局质量评分。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法,其特征在于,所述m个质量指标包括以下至少一项:最差负时序裕量wns、所述wns占时钟周期的比例、总负时序裕量tns、违反路径的数量nvp、横向拥塞overflow-h或纵向拥塞overflow-v。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法,其特征在于,所述在执行布线之前,根据所述多个宏单元的布局结果确定所述每个模块的m个质量指标的值,包括:

10.一种芯片设计工具中布局质量评估装置,其特征在于,包括:

11.根据权利要求10所述的装置,其特征在于,所述评估结果用于...

【专利技术属性】
技术研发人员:开昰雄张文发沈嘉华张博杰伍宏忠王滨
申请(专利权)人:华为技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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