一种键盘测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种键盘测试系统，它包括上位机、显示控制设备和至少一套数据采集设备；所述数据采集设备用于将采集的键盘接通按键键值和电阻值转换为接通按键信息后，发送至上位机；所述上位机用于检测按键电阻值是否大于标准电阻值，存储并分屏显示来自各数据采集设备的接通按键键值、电阻值和检测结果；数据采集设备包括数据采集模块、电气控制模块和柔性线路板连接器。本发明专利技术系统具有测试时间短、误差小、成本低的特点，可广泛应用于带键盘的电子产品中。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试技术，特别是涉及一种键盘测试系统。
技术介绍
目前，对键盘进行功能测试，通常的做法是第一步，测试待测键盘上 各个按键的通断，以保证每个按键都能正常工作；第二步，测试键盘柔性线 路板(FPC, Flexible Printed Circuit)上各个按4建的电阻，判断各个按键的 电阻值是否达到设定的正常范围内。针对第一步中各个按键的通断测试，现有的做法是待测键盘直接连接 电脑，或者将待测键盘固定到带有处理芯片的键盘治具上，通过按键操作来 验证各个按键的通断。这样，每个通断测试工位均需配置一台电脑或键盘治 具。针对第二步中各个按键电阻值的测试，每个测试工位均需配置专门的测 试治具和电脑，测试治具通过专门的电阻测量仪或数据采集卡实现对接通按 键电阻值的采集。这样，仍存在有每个电阻值测试工位均需配置测试治具和 电脑。基于上述键盘测试的两个工序，由于每个工序只测试一种功能，所以， 键盘测试时间会比较长。测试过程中，不同的测试工序需要配置不同的测试 设备，这样导致成本比较高；而且，较多的测试工位需要配置较多的测试人 员，这样也会增加测试成本。另外，在4建盘测试的两个工序中，每个测试工 序的测试治具均比较复杂，这样就增加了一些不确定的影响因素，增大了测 量误差。由此可见，采用现有的键盘测试设备实现键盘测试，测试时间比较长， 成本比较高。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的主要目的在于提供一种键盘测试系统，使得测试时 间短、测试成本低。为了达到上述目的，本专利技术提出的技术方案为一种键盘测试系统，包括上位机、显示控制设备和至少一套数据采集设备;所述数据采集设备，用于将采集的键盘接通按键键值和电阻值转换为接通 按键信息后，发送至上位机；所述上位机，用于从各套数据采集设备发送的接通按键信息中提取接通按 键键值和电阻值，检测接通按键电阻值是否大于标准电阻值，存储接通按键键 值、电阻值和检测结果，将接通按键键值、电阻值和检测结果发送至显示控制 设备；根据显示控制设备的分屏控制，分屏显示来自各套数据采集设备的接通 按键键值、电阻值和检测结果；其中，数据釆集设备包括数据采集模块、电气控制模块和柔性线路板连接器；在电气控制模块的驱动下，数据采集模块连接柔性线路板连接器，并通过 柔性线路板连接器连接到键盘，采集键盘接通按键键值和电阻值，将接通按键 键值和电阻值转换为接通按键信息后，发送至上位机。综上所述，本专利技术系统将一套数据采集设备与一个测试工位相对应，就 可以同时实现对来自多个测试工位的^皮测4建盘进行测试，而且，通过一个上 位机实现对各测试工位;陂测4建盘测试结果的分屏显示，不必为每个测试工位 配备一台上位机，所以，本专利技术大大降低了测试成本；本专利技术系统对被测4囊 盘按键的通断状态和电阻值的测试，不再分为两个工序，分别进行测试，而 是同时完成这两个工序的测试，这样，就降低了测试时间。附图说明图1为本专利技术键盘测试系统结构组成示意图。 图2为数据釆集模块组成结构示意图。图3为控制器组成结构示意图。图4为上位机组成结构示意图。图5为实施例测试系统组成结构示意图。图6为行列触发开关对应按键的分压电路示意图。具体实施例方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体 实施例对本专利技术作进 一 步地详细描述。图1为本专利技术键盘测试系统结构组成示意图。如图l所示，本专利技术所述键 盘测试系统包括第1 n套数据采集设备、上位机2和显示控制设备3， n为自然 数；第1 n套数据采集设备，用于将采集的键盘接通按键键值和电阻值转换为 接通按键信息后，发送至上位机2;上位机2，用于从第1 n套数据采集设备发送的接通按键信息中提取接通 按键键值和电阻值，检测接通按键电阻值是否大于标准电阻值，存储接通按键 键值、电阻值和检测结果,将接通按键键值、电阻值和检测结果发送至显示控 制设备3;根据显示控制设备3的分屏控制，分屏显示来自第l~n套数据采集 设备的接通按键键值、电阻值和检测结果；其中，第l~n套数据采集设备均包括数据釆集模块11、电气控制模块12 和柔性线路板连接器13;在电气控制模块12的驱动下，数据采集模块ll连接 柔性线路板连接器13,并通过柔性线路板连接器13连接到键盘，采集键盘接 通按键键值和电阻值，将接通按键键值和电阻值转换为接通按键信息后，发送 至上位机2。实际应用中，第1 n套数据采集设备均还包括治具，用于固定键盘，实现 键盘精确定位。实际应用中，显示控制设备3包括多屏扩展卡，用于扩展上位机2的视频 图形阵列(VGA, Video Graphics Array)接口，使得上位机2的一台主机可以连接至少一台显示器。 一台显示器分别对应一套数据采集设备。显示控制设备3根据第1 n套数据采集设备，将上位机2发送的接通按键键值、电阻值和检 测结果进行分屏后，转发至对应的显示器。实际应用中，电气控制模块12包括带导轨汽缸，带导轨汽缸前后运动，控 制数据采集模块11的探针与柔性线路板连接器13的通断。本专利技术中，接通按键信息包括四个字节第一个字节为引导码，第二个字 节为接通按4建键值，第三个和第四个字节为接通按键电阻值。引导码用以标识 接通按键，如果上位机1收到的接通按键信息中没有引导码，上位机1会将该 接通按键信息丢弃。实际应用中，标准电阻通常是由生产商根据按键接通速度、键盘耗电量以 及接通按键键值和电阻值的精确度确定的。如果接通按键电阻值大于标准电阻 值，那么，该接通按键不符合实际要求，装配有该接通按键的键盘也不符合实 际要求；如果接通按键电阻值小于或等于标准电阻值，那么，该接通按键才符 合实际要求。这里，标准电阻值设定为500欧姆。图2为数据采集模块组成结构示意图。如图2所示，数据采集模块11包括 控制器lll、电平转换器112和探针113;其中，控制器111用于通过探针113 连接到柔性线路板连接器13,并通过柔性线路板连接器13连接到键盘，扫描 键盘各按键通断状态，读取接通按键键值和电压值，将电压值由模拟量转换为 数字量，根据电阻与电压之间的关系，获取数字量电压值对应的接通按键电阻 值，将接通按键键值和电阻值转换为接通按键信息后，发送至电平转换器112。 电平转换器112用于将承载有接通按键信息的信号的电平转换为上位机所需电 平后，发送至上位机2。探针113用于将控制器111连接到柔性线路板连接器 13。实际应用中，控制器111可由单片机来实现。数据采集模块11通过串行接口将接通按4建信息发送至上位机2。上位机2所需电平为5V。图3为控制器组成结构示意图。如图3所示，控制器111包括扫描单元1111、8A/D转换单元1112、电阻值获取单元1113和转换单元1114;其中，扫描单元 1111用于在通过探针113、柔性线路板连接器13连接到4建盘后，扫描键盘各按 键通断状态，将按键接通状态发送至A/D转换单元1112，将接通按键键值发送 至转换单元1114; A/D转换单元1112用于根据按键接通状态，读取扫描单元 1111扫描到的接通按键电压值，将接通按键电压值由模拟量转换为数字量后， 发送至电阻值获取单元1113;电阻值获取单元1113用于根据分压电路中电压 值和电阻值之间的关系，将来自A/D转换单元1112本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种键盘测试系统，其特征在于，所述系统包括上位机、显示控制设备和至少一套数据采集设备；　　　　所述数据采集设备，用于将采集的键盘接通按键键值和电阻值转换为接通按键信息后，发送至上位机；　　　　所述上位机，用于从各套数据采集设备发送的接通按键信息中提取接通按键键值和电阻值，检测接通按键电阻值是否大于标准电阻值，存储接通按键键值、电阻值和检测结果，将接通按键键值、电阻值和检测结果发送至显示控制设备；根据显示控制设备的分屏控制，分屏显示来自各套数据采集设备的接通按键键值、电阻值和检测结果；　　　　其中，数据采集设备包括数据采集模块、电气控制模块和柔性线路板连接器；　　　　在电气控制模块的驱动下，数据采集模块连接柔性线路板连接器，并通过柔性线路板连接器连接到键盘，采集键盘接通按键键值和电阻值，将接通按键键值和电阻值转换为接通按键信息后，发送至上位机。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：姚海波，何喜，王润斌，潘立，
申请(专利权)人：比亚迪股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]