【技术实现步骤摘要】
本申请涉及颗粒光学检测领域,具体涉及一种基于偏振与光谱融合的颗粒分类与识别装置及其方法。
技术介绍
1、颗粒检测问题在国民经济的各行各业,包括制药、化妆品、环境、生物以及工业生产过程控制与检测等方面运用较广泛。颗粒物大小,折射率,形状、分布等会影响药效。另外,对于重症加强护理病房与手术室等场所,较高浓度的颗粒物的传播也会伴随着细菌、病毒的传播,影响病患的康复和手术的实施。因此,精确监测颗粒的大小、形状、分布以及材料识别和分类都具有重要意义。
2、颗粒物的检测使用的检测技术主要可以分为取样法、图像分析检测技术、光谱检测技术、光散射法、偏振光检测。取样分析法检测原理简单,测量结果稳定可靠,但操作步骤繁琐复杂,劳动密集且耗时;光谱法可以获得丰富的颗粒物信息,精准度高,应用范围很广泛,但是相关的实验设备价格十分昂贵;光散射方法测量装置相对简单、可重现性好、快速、准确,因此具有易于在线测量的优势,但光散射法容易受到背景光噪声和颗粒大小、形状的影响,在颗粒分类方面的应用有所欠缺。偏振比被认为是材料成分的指纹,偏振比检测技术本质上也属于光
...【技术保护点】
1.一种基于偏振与光谱融合的颗粒分类与识别装置,其特征在于,包括,显微镜组件、套筒透镜组件以及加长套管组件;
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述显微镜组件还包括,用于连接微物镜(1)和第一分束器(3)的物镜接口(2)。
3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,其还包括,用于连接第一分束器(3)与套筒透镜支架(5)或者连接第二分束器(13)与加长管(6)的转动环(4)。
4.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述加长套管组件还包括,用于连接加长管(6)与偏振相机(8)或者连接RGB相机(9)与加长管(6)的转
...【技术特征摘要】
1.一种基于偏振与光谱融合的颗粒分类与识别装置,其特征在于,包括,显微镜组件、套筒透镜组件以及加长套管组件;
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述显微镜组件还包括,用于连接微物镜(1)和第一分束器(3)的物镜接口(2)。
3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,其还包括,用于连接第一分束器(3)与套筒透镜支架(5)或者连接第二分束器(13)与加长管(6)的转动环(4)。
4.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述加长套管组件还包括,用于连接加长管(6)与偏振相机(8)或者连接rgb相机(9)与加长管(6)的转接环(7)。
5.根据权利要1所述的装...
【专利技术属性】
技术研发人员:李璟文,张金莹,毕杰方,张帅帅,杨国锋,
申请(专利权)人:江南大学,
类型:发明
国别省市:
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