基于随机置换的伪随机序列的随机性检测方法技术

本发明专利技术公开了一种基于随机置换的伪随机序列的随机性检测方法，它属于检测领域，主要解决现有的随机性检测方法中存在的局限性和片面性的问题。其检测步骤是：对待测序列进行一系列的随机置换处理，如求逆或取反或随机交织；将随机置换处理后得到的逆序列或反序列或随机交织序列用Ｃｒａｍéｒ－ｖｏｎ？Ｍｉｓｅｓ检测方法进行统计，得到对应序列的统计值，将对应序列的统计值与选定的标准统计值进行比较，若统计值小于该标准统计值，则待测序列满足随机特性，反之待测序列不具有随机特性。本发明专利技术使得伪随机序列的随机性检测在检测结果上更加全面，可应用于保密通信、航空航天、测距、密码学和自动控制领域。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种基于随机置换的伪随机序列的随机性检测方法，包括如下过程：　　　　（１）设置待测二元序列为ａ↓［１］，ａ↓［２］，．．．，ａ↓［ｎ］，长度为ｎ；　　　　（２）对待测序列求逆，得到逆序列为：ａ↓［ｎ］，ａ↓［ｎ－１］，．．．，ａ↓［１］；（３）对逆序列用Ｃｒａｍ＊ｒ－ｖｏｎ　　Ｍｉｓｅｓ测试方法进行统计，得到逆序列的统计值Ｔ↓［１］＝１／１２Ｎ＋＊［（２ｉ－１）／２Ｎ－Ｆ（ｘ↓［１（ｉ）］）］↑［２］，Ｎ为采样点，ｘ↓［１（ｉ）］为根据逆序列构造的一个服从标准正态分布的统计量，Ｆ（ｘ↓［１（ｉ）］）为标准正态分布函数；　　　　（４）通过Ｃｒａｍ＊ｒ－ｖｏｎ　　Ｍｉｓｅｓ测试方法，选定一个分位点α（０＜α＜１），构造标准统计值Ｎｗ↑［２］＝Ｎ∫↓［－∞］↑［ｘ↓［ａ］］（Ｆ（ｘ）－Ｆ↑［＊］（ｘ））↑［２］ｄｘ，ｘ↓［α］为α对应的标准正态分布变量，Ｆ（ｘ）为待测分布函数，Ｆ↑［＊］（ｘ）为标准正态分布函数，Ｆ（ｘ）服从与Ｆ↑［＊］（ｘ）对应的随机特性；　　　　（５）将逆序列的统计值Ｔ↓［１］与标准统计值Ｎｗ↑［２］进行比较，若Ｔ↓［１］小于该标准统计值，则待测序列满足随机特性，反之待测序列不具有随机特性。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：马文平，陈秋丽，殷浩，
申请(专利权)人：西安电子科技大学，
类型：发明
国别省市：87[中国|西安]