一种测量方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本公开提出一种测量方法、装置、设备及存储介质，方法包括：响应于不需要测量间隔的第一测量机会与需要测量间隔的第二测量机会之间发生冲突，执行不需要测量间隔的测量或执行需要测量间隔的测量。本公开的方法可以避免出现“由于不需要测量间隔的测量与需要测量间隔的测量的时间重合，而导致同频测量(即不需要测量间隔的测量)和异频测量(即需要测量间隔的测量)均受到影响”的情况，确保了同频测量和异频测量的准确顺利执行，提高了参考信号的测量效率。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

技术介绍

技术实现思路

【技术保护点】

PCT国内申请，权利要求书已公开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

pct国内申请，权...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡子泉，陶旭华，
申请(专利权)人：北京小米移动软件有限公司，
类型：发明
国别省市：