一种基于复信号测量的1bit RIS空口诊断方法技术

本发明专利技术公开了一种基于复信号测量的1bit RIS空口诊断方法，涉及空口测试技术领域，用于诊断无源1bit RIS中的故障移相器；对每个RIS单元进行相位反转操作，包括0°和180°两个相位状态；若RIS单元存在移相器故障，则该单元相位反转前后所测得的信号没有变化，信号差值为0；若RIS单元不存在移相器故障，则该单元相位反转前后所测得的信号反相，差值为相位反转前所测得信号的两倍；通过比较不同单元相位反转前后所测得的信号差值即可诊断出故障单元，本发明专利技术为RIS故障移相器诊断算法提供参考。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及空口测试，特别是一种基于复信号测量的1bit ris空口诊断方法。

技术介绍

1、随着第五代(5g)移动通信网络在全球范围内的测试和部署，以及第六代(6g)移动通信系统逐渐成为学术界和工业界的研究热点，无线通信领域对硬件范式和传输技术的要求也在不断提高。在6g物理层候选使能技术中，将大规模多输入多输出(mimo)升级成为超大规模mimo，以及将工作频段扩展至太赫兹频段被认为是具有潜力的技术路线。然而，这些技术的实现面临着高硬件成本和高能耗的严峻挑战。

2、可重构智能表面(ris)由大量可调谐单元组成，能够智能地控制传播环境，提高网络的容量和覆盖率，已成为6g实现广泛连接的一项关键技术。由于其在智能控制和塑造无线信道方面的能力，受到了工业界和学术界的极大关注。为了确保ris正常工作，ris单元的相位调谐功能正常工作是至关重要的。由于ris的低成本和大规模配置，它将存在故障模式。此外，由于制造缺陷、单元老化和温度变化等原因，在实际应用中，ris单元的相位调谐功能可能会失效。因此，ris诊断在生产线和实际应用中是十分必要的。然而，目前为本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于复信号测量的1bit RIS空口诊断方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种基于复信号测量的1bit RIS空口诊断方法，其特征在于，步骤5具体如下：

3.根据权利要求2所述的一种基于复信号测量的1bit RIS空口诊断方法，其特征在于，非故障的RIS单元与故障的RIS单元的接收信号变化值的差值大于30dB。

4.根据权利要求1所述的一种基于复信号测量的1bit RIS空口诊断方法，其特征在于，步骤1中，将RIS单元的相位设置为0°时，接收天线所接收到的复信号yo为：

5.根据权利要求4所述的一种基于复信号...

【技术特征摘要】

1.一种基于复信号测量的1bit ris空口诊断方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种基于复信号测量的1bit ris空口诊断方法，其特征在于，步骤5具体如下：

3.根据权利要求2所述的一种基于复信号测量的1bit ris空口诊断方法，其特征在于，非故障的ris单元与故障的ris单元的接收信号变化值的差值大于30db。

4.根据权利要求1所述的一种基于复信号测量的1bit ris空口诊断方法，其特征在于，步骤1中，将ris单元的相位设置为0°时，接收天线所接收到的复信号yo为：

5.根据权利要求4所述的一种基于复信号测量的1bit ris空口诊断方法，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：范伟，
申请(专利权)人：东南大学，
类型：发明
国别省市：