一种可测量真空紫外灯光强空间分布的装置制造方法及图纸

技术编号:42176594 阅读:26 留言:0更新日期:2024-07-27 00:23
本技术公开了一种可测量真空紫外灯光强空间分布的装置,其具体结构包括真空紫外灯、气体进样毛细管、真空紫外灯固定座、橡胶密封圈、金属栅网、绝缘环、光电子产生电极、遮光环以及腔体。本技术通过使用具有不同内径的遮光环来改变光电子产生截面,通过改变绝缘环数量来改变光电子产生位置,通过气体进样毛细管和阀门来改变腔体内气体种类和压力,从而实现了在不同气体种类和气压下对真空紫外灯光强空间分布的测量,进而可为光电离源的设计提供有效指导。

【技术实现步骤摘要】

本技术公开了一种可测量真空紫外灯光强空间分布的装置,其通过使用具有不同内径的遮光环来改变光电子产生截面,通过改变绝缘环数量来改变光电子产生位置,通过气体进样毛细管和阀门来改变腔体内气体种类和压力,从而实现了在不同气体种类和气压下对真空紫外灯光强空间分布的测量,进而可为光电离源的设计提供有效指导。


技术介绍

1、光电离(photoionization,pi)是样品分子通过吸收光子,使得能量达到或超过自身电离能后失去电子而产生电离的过程。光电离过程中产生的碎片离子少,绝大部分是分子离子,因此是一种软电离技术,所以将光电离作为质谱的离子源会具有谱图易解析,定性定量容易的优点。

2、目前,体积小、功耗低的商品化真空紫外灯已被广泛用作光电离质谱的光源,因此了解真空紫外灯的光强空间分布以及光强在不同种类气体和气压下的变化情况对于光电离源的设计具有重要的指导意义。

3、已有众多研究者探究光电离源中不同光程和气压对信号强度的影响(talanta2021,235,122722;anal.chem.2011,83,5309–5316等),但尚无专门针对本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种可测量真空紫外灯光强空间分布的装置,其特征在于:包括真空紫外灯(1)、气体进样毛细管(2)、真空紫外灯固定座(3)、橡胶密封圈(4)、金属栅网(5)、绝缘环(9)、光电子产生电极(10)、遮光环(11)以及腔体(12);于腔体(12)的侧壁面上开设有与腔体(12)内部连通的机械真空泵(7)抽气口和真空规(8)接口;

2.根据权利要求1所述的光强空间分布测量装置,其特征在于:

3.根据权利要求1所述的光强空间分布测量装置,其特征在于:

4.根据权利要求1所述的光强空间分布测量装置,其特征在于:

5.根据权利要求1所述的光强空间分布测量...

【技术特征摘要】

1.一种可测量真空紫外灯光强空间分布的装置,其特征在于:包括真空紫外灯(1)、气体进样毛细管(2)、真空紫外灯固定座(3)、橡胶密封圈(4)、金属栅网(5)、绝缘环(9)、光电子产生电极(10)、遮光环(11)以及腔体(12);于腔体(12)的侧壁面上开设有与腔体(12)内部连通的机械真空泵(7)抽气口和真空规(8)接口;

2.根据权利要求1所述的光强空间分布测量装置...

【专利技术属性】
技术研发人员:李海洋樊志刚花磊蒋吉春张振元
申请(专利权)人:中国科学院大连化学物理研究所
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1