【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光谱测量，尤其涉及一种用于微量地外天体矿物样品的双向反射光谱测量装置。
技术介绍
1、地外天体采样返回是除陨石之外获取地外矿物样品的新渠道。样品中的主要矿物在可见至短中波光谱范围内具有不同的光谱特征，并且其反射特性具有双向性的特点，即反射特性与光线的入射方向和探测方向有关。因此，通过测量样品在该谱段范围的双向反射光谱，可以无损的区分和识别样品中的主要矿物类型及含量、蕴含的羟基/水的含量、物理特性和太空风化特征等信息，从而对样品中的主要岩石矿物学特征及其演化历史等进行分析，对研究样品采集区域的地质背景信息、认识地外天体的起源和演化具有重要意义。另外，还可以模拟仿真在轨的光谱仪器探测时的光照角度、探测角度，对测量样品在该状态下的光谱数据，为在轨探测数据提供数据处理方法，支撑构建准确的物质成分反演模型。
2、然而，目前地外天体采样返回的样品数量较少，并且非常珍贵。因此双向反射光谱测量系统需要采用更少的样品用量，更宽角度的光照和探测角度，并且具备样品防护的功能。但是，目前尚未有满足真实地外天体微量样品（毫克量级）的测试...
【技术保护点】
1.一种用于微量地外天体矿物样品的双向反射光谱测量装置，其特征在于，包括单色照明模块(1)、显微光谱测量模块(2)、样品承载模块(3)和控制与数据分析模块(4)，所述单色照明模块(1)设有出光口(114)，所述显微光谱测量模块(2)设有入光口(216)，所述样品承载模块(3)位于所述出光口(114)和所述入光口(216)之间，所述控制与数据分析模块(4)分别与所述单色照明模块(1)、所述显微光谱测量模块(2)、所述样品承载模块(3)电性连接；
2.根据权利要求1所述的一种用于微量地外天体矿物样品的双向反射光谱测量装置，其特征在于，所述单色照明模块(1)包括...
【技术特征摘要】
1.一种用于微量地外天体矿物样品的双向反射光谱测量装置，其特征在于，包括单色照明模块(1)、显微光谱测量模块(2)、样品承载模块(3)和控制与数据分析模块(4)，所述单色照明模块(1)设有出光口(114)，所述显微光谱测量模块(2)设有入光口(216)，所述样品承载模块(3)位于所述出光口(114)和所述入光口(216)之间，所述控制与数据分析模块(4)分别与所述单色照明模块(1)、所述显微光谱测量模块(2)、所述样品承载模块(3)电性连接；
2.根据权利要求1所述的一种用于微量地外天体矿物样品的双向反射光谱测量装置，其特征在于，所述单色照明模块(1)包括第一箱体(113)、卤素灯(11)、分谱段组件、第一反射组件和反射汇聚镜(110)，所述出光口(114)设置在所述第一箱体(113)上，所述卤素灯(11)、所述分谱段组件、所述第一反射组件和所述反射汇聚镜(110)都设置在所述第一箱体(113)内部，所述卤素灯(11)和所述第一反射组件分别设置在所述分谱段组件上方的两端，所述反射汇聚镜(110)位于所述第一反射组件远离所述卤素灯(11)的一侧，所述出光口(114)位于所述反射汇聚镜(110)远离所述第一反射组件的一侧。
3.根据权利要求2所述的一种用于微量地外天体矿物样品的双向反射光谱测量装置，其特征在于，所述第一反射组件包括第一反射镜(18)和第二反射镜(19)，所述第一反射镜(18)位于所述第二反射镜(19)上方，所述第二反射镜(19)位于所述第一反射镜(18)和所述反射汇聚镜(110)之间；所述反射汇聚镜(110)用于形成毫米尺度的总单色光光束；
4.根据权利要求3所述的一种用于微量地外天体矿物样品的双向反射光谱测量装置，其特征在于，所述分谱段组件包括可见-红外谱段光束分离组件和短波-中波红外谱段光束分离组件，所述可见-红外谱段光束分离组件位于所述短波-中波红外谱段光束分离组件的上方；
5.根据权利要求2所述的一种用于微量地外天体矿物样品的双向反射光谱测量装置，其特征在于，所述第一箱体(113)外壁还设有第一驱动组件，所述第一驱动组件包括第一电机(111)和第一轴承(112)，所述第一电机(111)和所述第一轴承(112)分别设置在所述第一箱体(113)的一组相对的外壁上，所述第一电机(111)的输出端穿过所述第一箱体(113)与所述第一轴承(112...
【专利技术属性】
技术研发人员：何志平，李津宁，徐睿，靳爱军，王振动，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：
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