一种光电一体式测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种光电一体式测试系统，涉及光电元器件测试技术领域，包括两组平移机构，其中一组平移机构上设置有检测架，该平移机构与检测架之间设置有剪叉支架，检测架上设置有卡接组件以及托举组件，另外一组平移机构上设置有送料机构，顶架上悬挂设置有暗箱，暗箱的底部开口设置，检测架在剪叉支架的带动下升起与暗箱底部配合后形成完整的封闭检测空间，暗箱内设置有驱动组件以及光电检测组件、接触供电组件，驱动组件带动卡接组件进行旋转；通过检测架设置检测盘，配合送料机构将光电元器件均匀组装在检测盘的边缘，检测架与暗箱组合时实现对检测盘上的光电元器件转动检测，提升检测效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光电元器件测试，具体是一种光电一体式测试系统。

技术介绍

1、光电子器件的设计原理是依据外场对导波光传播方式的改变，它也有别于早期人们袭用的光电器件，光电子器件是光电子技术的关键和核心部件，是现代光电技术与微电子技术的前沿研究领域，是信息技术的重要组成部分。

2、光电元器件在进行测试抽检时需要再严格避光的空间内进行，现有的测试设备在进行测试时无法形成流水化测试，每测试一次都需要重新搭建避光环境，测试效率较低。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种光电一体式测试系统，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。

2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：

3、一种光电一体式测试系统，包括底座，底座上横向布置有水平导轨，水平导轨的两端之间固定安装有顶架，水平导轨上连续布置有两组平移机构，其中一组平移机构上设置有检测架，该平移机构与检测架之间设置有剪叉支架，检测架上设置有卡接组件以及托举组件，另外一组平移机构上设置有送料机构，顶架上悬挂设置有暗箱，暗箱的底部开口本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光电一体式测试系统，包括底座（1），所述底座（1）上横向布置有水平导轨（10），所述水平导轨（10）的两端之间固定安装有顶架（12），其特征在于，所述水平导轨（10）上连续布置有两组平移机构（2），其中一组平移机构（2）上设置有检测架（3），该平移机构（2）与检测架（3）之间设置有剪叉支架（21），所述检测架（3）上设置有卡接组件（35）以及托举组件（36），另外一组所述平移机构（2）上设置有送料机构（4），所述顶架（12）上悬挂设置有暗箱（5），所述暗箱（5）的底部开口设置，所述检测架（3）在剪叉支架（21）的带动下升起与暗箱（5）底部配合后形成完整的封闭检测空间，所述暗箱（5...

【技术特征摘要】

1.一种光电一体式测试系统，包括底座（1），所述底座（1）上横向布置有水平导轨（10），所述水平导轨（10）的两端之间固定安装有顶架（12），其特征在于，所述水平导轨（10）上连续布置有两组平移机构（2），其中一组平移机构（2）上设置有检测架（3），该平移机构（2）与检测架（3）之间设置有剪叉支架（21），所述检测架（3）上设置有卡接组件（35）以及托举组件（36），另外一组所述平移机构（2）上设置有送料机构（4），所述顶架（12）上悬挂设置有暗箱（5），所述暗箱（5）的底部开口设置，所述检测架（3）在剪叉支架（21）的带动下升起与暗箱（5）底部配合后形成完整的封闭检测空间，所述暗箱（5）内设置有驱动组件（9）以及光电检测组件（7）、接触供电组件（8），所述驱动组件（9）带动卡接组件（35）进行旋转，所述驱动组件（9）包括设置暗箱（5）顶部的电机三（90），所述电机三（90）连接有抓取头（91）；

2.根据权利要求1所述的一种光电一体式测试系统，其特征在于，所述平移机构（2）包括设置在水平导轨（10）边缘的水平齿条（11），所述水平齿条（11）与水平导轨（10）之间平行设置，所述水平导轨（10）上滑动安装有卡接架（20），所述卡接架（20）的边缘设置有电机一（22），所述电机一（22）连接有配合齿轮一（23），所述配合齿轮一（23）与水平齿条（11）之间相互啮合。

3.根据权利要求1所述的一种光电一体式测试系统，其特征在于，所述检测盘（32）的中心区域设置有抓取凸缘（320）以及中心孔（321），所述卡接组件（35）包括中心盘（350），所述中心盘（350）的边缘均匀设置有安装框（351），所述安装框（351）内滑动安装有张开架（352），所述张开架（352）位于安装框（351）上侧的端部设置有接触凸缘（3520），所述张开架（352）位于安装框（351）下侧的端部设置有卡接凸缘（3522），所述张开架（352）上设置有配合滑块（3521），所述配合滑块（3521）与安装框（351）之间滑动安装，所述配合滑块（3521）与安装块之间设置有连接弹簧一（3523），所述中心盘（350）的边缘设置有固定杆（354），所述固定杆（354）的端部固定设置有安装板（359），所述安装板（359）上设置有导向杆（356）以及双向丝杆（355），所述导向杆（356）以及双向丝杆（355）贯穿中心盘（350）且平行设置，所述安装板（359）上设置有电机二（3510），所述电机二（3510）与双向丝杆（355）相连，所述双向丝杆（355）以及导向杆（356）的两端设置有移动板（357），所述移动板（357）与双向丝杠之间螺纹连接，所述移动板（357）上设置有推动架（353），所述推动架（353）与接触凸缘（3520）接触安装。

4.根据权利要求3所述的一种光电一体式测试系统，其特征在于，所述安装框（351）设置有四组，相邻两组所述安装框（351）之间的卡接凸缘（3522）与推动架（353）接触安装，所述推动架（353）的两个推动接触面之间呈九十度设置。

5.根据权利要求3所述的一种光电一体式测试系统，其特征在于，所述托举组件（36）包括配合杆（360），所述配合杆（360）与中心孔（321）相互配合，所述配合杆（360）的底部设置有托盘（362），所述托盘（362）的边缘均匀设置有延伸块（363），所述延伸块（363）与十字槽（310）相互配合，所述配合杆（360）的顶部设置有锁定头（361），所述锁定头（361）与驱动组件（9）之间相互配合。

6.根据权利要求1所述的一种光电一体式测试系统，其特征在于，所述送料机构（4）包括收纳架（40...

【专利技术属性】
技术研发人员：迟荣华，田婧妍，严鸣，李红旭，赵东，
申请(专利权)人：无锡瀚诺光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：