测量VCSEL损耗和增益的方法及系统技术方案

本申请实施例提供一种测量VCSEL损耗和增益的方法及系统，涉及光测量技术领域。所述方法包括：控制宽谱光源并调整电流源的输出功率，当腔内光增益和损耗达到平衡状态时，获取输出镜光损耗系数的值；继续增大电流源输出功率，根据VCSEL输出激光的强度与电流的相关性曲线，获取空谐振腔往返总光损耗系数；根据不同偏置电流下VCSEL的自发辐射线宽曲线，获取VCSEL的谐振腔内光增益系数。本申请实施例首先获取输出镜光损耗系数的值，再计算空谐振腔往返总光损耗系数，最后根据自发辐射线宽曲线获取得到谐振腔内光增益系数，从而有效提高测量VCSEL关键性能参数的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及光测量，具体而言，涉及一种测量vcsel损耗和增益的方法及系统。

技术介绍

1、垂直腔面发射激光器(vertical cavity surface emitting laser，vcsel)是一种激光发射方向垂直于p-n结平面、而谐振腔面平行于p-n结平面的半导体激光器，它属于面发射激光器的一种。与边发射激光器(edge emitting laser，eel)相比，vcsel的生产过程更具经济效益并且响应快，因此在越来越多的应用中取代了传统的边发射激光器。

2、vcsel生产过程中需要对各种关键性能参数进行检测。其中，liv(光强-电流-电压)测试是确定vcsel关键性能参数的一种快速简单的方法，通过liv(光强-电流-电压)测试，可以评估vcsel绝大多数电参数特性及最佳输出光功率。

3、目前，传统测量手段无法准确测量由腔体材料对光的吸收造成的光损耗，以及反射镜带来的光损耗。尽管通过一些测量手段能够测得vcsel发光材料的量子效率和谐振腔光损耗，但这些测量手段会产生较大的不确定性，导致测量结果准确性不高。

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【技术保护点】

1.一种测量VCSEL损耗和增益的方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测量VCSEL损耗和增益的方法，其特征在于，所述判断所述待测VCSEL的腔内光增益和损耗达到平衡状态，具体为：

3.根据权利要求1所述的测量VCSEL损耗和增益的方法，其特征在于，所述基于所述自发辐射线宽曲线获取得到所述待测VCSEL的谐振腔内光增益系数，包括：

4.根据权利要求1所述的测量VCSEL损耗和增益的方法，其特征在于，空谐振腔往返总光损耗系数与归一化往返群延迟的对应关系的表达式为：

5.根据权利要求4所述的测量VCSEL损耗和增益的方法，其特征在...

【技术特征摘要】

1.一种测量vcsel损耗和增益的方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测量vcsel损耗和增益的方法，其特征在于，所述判断所述待测vcsel的腔内光增益和损耗达到平衡状态，具体为：

3.根据权利要求1所述的测量vcsel损耗和增益的方法，其特征在于，所述基于所述自发辐射线宽曲线获取得到所述待测vcsel的谐振腔内光增益系数，包括：

4.根据权利要求1所述的测量vcsel损耗和增益的方法，其特征在于，空谐振腔往返总光损耗系数与归一化往返群延迟的对应关系的表达式为：

5.根据权利要求4所述的测量vcsel损耗和增益的方法，其特征在于，所述归一化往返群延迟表示为：

6.根据权利要求1所述的测量vcsel损耗和增益的方法，其特征在于，所述基于所...

【专利技术属性】
技术研发人员：高飞，王斌浩，
申请(专利权)人：西安芯湾科技有限公司，
类型：发明
国别省市：