一种测量尺制造技术

技术编号:42118793 阅读:36 留言:0更新日期:2024-07-25 00:38
本申请公开了一种测量尺,包括:第一测量尺,具有沿长度方向的容纳腔,所述容纳腔在沿所述长度方向的上沿、尺面以及在所述长度的正方向的一端敞口;第二测量尺,容置于所述容纳腔中,所述第一测量尺和所述第二测量尺的刻度布置于所述容纳腔在所述长度方向的上沿的敞口一侧,且所述第一测量尺和所述第二测量尺在所述刻度一侧的边缘齐平,所述第二测尺可沿所述长度方向移动并经过所述敞口移动至所述容纳腔之外;所述第二测量尺上设置有可移动的刻度标记块。通过本申请解决了一般不可变长度刻度尺使用不便的技术问题,大大提高了测量效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及到测量,特别是一种测量尺


技术介绍

1、测量尺使用范围较为广泛,例如建筑工程中,会对各类房屋建筑及其附属设施的建造和与其配套的线路、管道、设备进行测量。

2、而测量尺在使用的过程中,测量尺的长度都是固定的,对于测量比测量尺长度更长的物件时,需要对测量尺进行叠加使用进行测量,测量起来费时费力,容易造成测量误差,并且对物件的长度测量完后进行下个测量时,工作人员容易忘记上个测量的长度,影响测量尺测量的效率。


技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种测量尺,用于解决现有技术中长度固定的测量尺测量不便的技术问题。

2、一种测量尺,包括:

3、第一测量尺,具有沿长度方向的容纳腔,所述容纳腔在沿所述长度方向的上沿、尺面以及在所述长度的正方向的一端敞口;

4、第二测量尺,容置于所述容纳腔中,所述第一测量尺和所述第二测量尺的刻度布置于所述容纳腔在所述长度方向的上沿的敞口一侧,且所述第一测量尺和所述第二测量尺在所述刻度一侧的边缘齐平,所述第二测尺可沿所述长度方向移动并经本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测量尺,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测量尺,其特征在于,所述第一测量尺和所述和第二测量尺在所述长度方向上分布有多个对应的固定结构,所述固定结构用于使所述第二测量尺与所述第二测量尺在长度方向上进行相对固定。

3.根据权利要求2所述的测量尺,其特征在于,所述固定结构有两个,一个位于所述长度方向的第一端,另一个位于长度方向的第二端。

4.根据权利要求3所述的测量尺,其特征在于,所述固定结构均为磁扣结构,且磁扣结构中的两个相吸的磁铁一个布置于所述容纳腔中,另一个布置于所述第二测量尺中;所述两个固定结构中的磁铁的磁极布置方向相同。

...

【技术特征摘要】

1.一种测量尺,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的测量尺,其特征在于,所述第一测量尺和所述和第二测量尺在所述长度方向上分布有多个对应的固定结构,所述固定结构用于使所述第二测量尺与所述第二测量尺在长度方向上进行相对固定。

3.根据权利要求2所述的测量尺,其特征在于,所述固定结构有两个,一个位于所述长度方向的第一端,另一个位于长度方向的第二端。

4.根据权利要求3所述的测量尺,其特征在于,所述固定结构均为磁扣结构,且磁扣结构中的两个相吸的磁铁一个布置于所述容纳腔中,另一个布置于所述第二测量尺中;所述两个固定结构中的磁铁的磁极布置方向相同。

5.根据权利要求4所述的测量尺,其特征在于,所述容纳腔中和所述第二测量尺中均设置有安装槽以安装对应的磁铁。

6.根据权利要求1所述的测量尺,其特征在于,所述容纳腔在沿所述长度方向的下沿设置有第一滑槽,所述滑槽沿所述长度方向,所述第二测量尺与所述第一滑槽适配。

7.根据权利要求1-5中任意一项所述的测量尺,其特征在于,所述第二测量尺的尺面暴露于所述容纳腔...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘星宇洪家乐刘欣然
申请(专利权)人:安徽工业大学
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1