【技术实现步骤摘要】
技术介绍
1、本文所公开的主题涉及x射线检测器,并且更具体地涉及用于计算机断层摄影(ct)的平板x射线检测器。
2、非侵入式成像技术允许在没有物理接触的情况下获得受检者(患者、制造商品、行李、包裹或乘客)的内部结构或特征的图像。
3、例如,在基于x射线的成像技术中,x射线辐射穿透感兴趣的受检者(诸如人类患者),并且一部分辐射影响收集强度数据的检测器。在数字x射线系统中,检测器产生表示影响检测器表面的离散像素区域的辐射的量或强度的信号。然后可以处理信号以生成可显示以供查看的图像。
4、在一种这样的基于x射线的技术(称为计算机断层摄影(ct))中,扫描仪可以在围绕被成像的对象(诸如患者)的多个视角位置处投射来自x射线源的扇形或锥形x射线束。x射线束在其穿过对象时衰减并且由一组检测器元件检测,该组检测器元件产生表示到达检测器的入射x射线的强度或数量的信号。处理信号以产生表示对象的线性衰减系数沿x射线路径的线积分的数据。这些信号通常称为“投影数据”或仅称为“投影”。通过使用诸如滤波反投影的重建技术,可以生成
...【技术保护点】
1.一种用于计算机断层摄影(CT)成像系统的X射线检测器,包括:
2.根据权利要求1所述的X射线检测器,其中所述光电二极管阵列中的每个光电二极管被配置为充当到所述读出设备的直流电源。
3.根据权利要求1所述的X射线检测器,其中所述光电二极管阵列中的每个光电二极管包括非晶硅。
4.根据权利要求1所述的X射线检测器,其中所述读出设备包括专用集成电路。
5.根据权利要求1所述的X射线检测器,其中每个相应专用读出通道包括电流积分放大器。
6.根据权利要求1所述的X射线检测器,其中所述闪烁体层包括闪烁体组,所述闪烁体组
...【技术特征摘要】
1.一种用于计算机断层摄影(ct)成像系统的x射线检测器,包括:
2.根据权利要求1所述的x射线检测器,其中所述光电二极管阵列中的每个光电二极管被配置为充当到所述读出设备的直流电源。
3.根据权利要求1所述的x射线检测器,其中所述光电二极管阵列中的每个光电二极管包括非晶硅。
4.根据权利要求1所述的x射线检测器,其中所述读出设备包括专用集成电路。
5.根据权利要求1所述的x射线检测器,其中每个相应专用读出通道包括电流积分放大器。
6.根据权利要求1所述的x射线检测器,其中所述闪烁体层包括闪烁体组,所述闪烁体组包括结晶氧硫化钆。
7.根据权利要求1所述的x射线检测器,其中所述读出设备位于所述光成像器层的区域之外的相应检测器模块的单侧上,并且所有所述相应专用读出通道被引导至所述读出设备。
8.根据权利要求1所述的x射线检测器,其中每个相应专用数据线包括迹线,并且一个或多个迹线位于所述闪烁体层中的间隙下面。
9.根据权利要求1所述的x射线检测器,其中每个相应专用数据线包括迹线,并且一个或多个迹线位于所述光电二极管阵列中的一个或多个光电二极管下面。
10.根据权利要求9所述的x射线检测器,其中所述光成像器面板包括设置在所述迹线和所述一个或多个光电二极管之间的绝缘层,其中所述绝缘层被配置为减少所述迹线中的电容耦合和噪声。
11.根据权利要求1所述的x射线检测器,其中所述光成像器面板缺少晶体管和扫描线两者。
12.根据权利要求1所述的x射线检测器,其中所述读出设备被配置为利用不同读出模式来从所述光电二极管阵列读出所述电子。
13.根据权利要求12所述的x射线检测器,其中所述光电二极管阵列在侧接高分辨率中心区的一对标准分辨率区之间划分,并且其中所述不同读出模式包括第一读出模式和第二读出模式,在所述第一读出模式下,以...
【专利技术属性】
技术研发人员:比朱·雅各布,乌韦·维德曼,道格拉斯·阿尔巴利,
申请(专利权)人:通用电气精准医疗有限责任公司,
类型:发明
国别省市:
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