闪存预分类方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种闪存预分类方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：执行对闪存的量产；读取闪存的分区信息，基于分区信息确认当前分区的目标块；获取读写至目标块的数据总量、时间；根据目标块对应的数据总量、时间，计算得到目标块的读写速度；基于当前分区包含的目标块，按照预置算法计算得到目标读写速度；将目标读写速度作为闪存的读写速度并输出显示至量产工具界面。通过在对闪存的量产阶段统计读写至目标块的数据总量、时间，计算得到目标块的读写速度，再根据预置算法得到目标读写速度并输出显示至量产界面，直接让闪存在量产成功后就能够得到H2Test速度，可以基于目标读写速度对闪存的品质进行预分类，提高闪存的整体量产效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及闪存，特别是涉及一种闪存预分类方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

1、闪存作为主流的存储介质之一，广泛应用于各类型的存储产品中。闪存有品质区分的特性，品质的高低在方方面面影响着闪存的各项性能，如读写速度、容量、存储稳定性、价格等。

2、相关技术中，h2test作为评估闪存读写速度的检测工具，h2test执行全盘读写校验所得到的读写速度(行业称h2速度)能够反映闪存的品质，操作人员可依据h2速度来作为闪存的定价参考。执行h2test项目前，需搭配存储控制芯片对闪存进行量产(行业称开卡)，量产成功后方可执行h2test项目，量产过程因涉及到对闪存的全盘扫描，需耗费大量时间，但操作人员又不得不借助h2test项目得到的读写速度来作为闪存的定价参考，若大批量量产闪存，此情况会愈发突出。

技术实现思路

1、本专利技术的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种闪存预分类方法、装置、设备及存储介质，能够在量产完成阶段估算闪存的h2test速度并输出显示，实现对闪存的预分类。

2、本本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种闪存预分类方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的闪存预分类方法，其特征在于，所述按照预置算法计算得到目标读写速度，包括：

3.根据权利要求2所述的闪存预分类方法，其特征在于，所述将根据各分区对应的分区读写速度、所述权重系数，按照预置算法计算得到目标读写速度，包括：

4.根据权利要求1～3中任意一项所述的闪存预分类方法，其特征在于，所述基于所述分区信息确认当前分区的目标块，包括：

5.一种闪存预分类装置，其特征在于，包括：

6.根据权利要求5所述的闪存预分类装置，其特征在于，所述第二计算模块，包括：

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【技术特征摘要】

1.一种闪存预分类方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的闪存预分类方法，其特征在于，所述按照预置算法计算得到目标读写速度，包括：

3.根据权利要求2所述的闪存预分类方法，其特征在于，所述将根据各分区对应的分区读写速度、所述权重系数，按照预置算法计算得到目标读写速度，包括：

4.根据权利要求1～3中任意一项所述的闪存预分类方法，其特征在于，所述基于所述分区信息确认当前分区的目标块，包括：

5.一种闪存预分类装置，其特征在于，包括：

6.根据权利要求5所述的闪存...

【专利技术属性】
技术研发人员：余亚南，陈向兵，胡来胜，张如宏，张辉，
申请(专利权)人：深圳三地一芯电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：

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