行波管永磁环轴向峰值磁通密度的测量方法及装置制造方法及图纸

技术编号:42059968 阅读:18 留言:0更新日期:2024-07-19 16:45
本发明专利技术公开了一种行波管永磁环轴向峰值磁通密度的测量方法及装置,属于行波管永磁环磁特性测量技术领域,所述测量方法为采用一维亥姆霍兹线圈和数字磁通计,其步骤包括信息采集步骤、测量步骤和数据处理步骤;本发明专利技术将永磁环中心点轴向磁通密度的单点测量转化为永磁环整体的磁通测量,其优点是操作简单,通用性强,可实现使用不同亥姆霍兹线圈对不同尺寸永磁环轴向峰值磁通密度的快速筛选,具有很强的实用价值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及行波管永磁环磁特性测量,尤其涉及一种行波管永磁环轴向峰值磁通密度的测量方法及装置


技术介绍

1、行波管高功率、宽频带、低噪声、高增益等优良特性,被广泛的应用于通信、雷达、电子对抗等现代电子设备中。行波管是靠和电磁波同步的电子把能量交给电磁波实现放大。电子束从电子枪出来后穿过慢波结构,电子束中电子相互排斥使电子束发散而达到慢波结构中,失去能量交换的机会,因此需要一个磁聚焦系统约束电子束,使其能顺利通过慢波结构实现放大。现在的行波管采用周期永磁聚焦系统进行聚焦,周期永磁聚焦系统是由轴向磁化相互排斥的永磁环和高磁导率、高饱和磁化强度的极靴排列而成的周期磁场,要求永磁环的轴向峰值磁通密度在一定的范围内。

2、目前,永磁环的轴向峰值磁通密度一般采用带有轴向霍尔探头的特斯拉计/高斯计来测量。采用特斯拉计/高斯计来测量永磁环轴向峰值磁通密度,需要根据轴向霍尔探头尺寸和永磁环内径尺寸,制作不同尺寸的测量工装,以保证轴向霍尔探头沿永磁环的中心轴线运动。而且不同特斯拉计/高斯计相对标准磁通密度值(计量用标准磁通密度值)的误差不同,在测量时需根据计量本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种行波管永磁环轴向峰值磁通密度的测量方法,其特征在于,采用一维亥姆霍兹线圈和数字磁通计,其步骤包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,

6.一种行波管永磁环轴向峰值磁通密度的测量装置,其特征在于,包括:

【技术特征摘要】

1.一种行波管永磁环轴向峰值磁通密度的测量方法,其特征在于,采用一维亥姆霍兹线圈和数字磁通计,其步骤包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

3.根据权利要求1所述的方法,...

【专利技术属性】
技术研发人员:王林梅程玲莉
申请(专利权)人:西南应用磁学研究所中国电子科技集团公司第九研究所
类型:发明
国别省市:

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