【技术实现步骤摘要】
本技术一般涉及辐射探测。更具体地,本技术涉及一种用于低本底γ谱仪的复合金属材料屏蔽室。
技术介绍
1、低本底γ谱仪是一种用于测量被测样品的放射性核素活度的常用设备,主要由γ探测器、屏蔽室、电子学系统和数据分析系统组成,目前已被广泛应用于环境监测、地质研究等领域。例如,在环境监测中,低本底γ谱仪被用于定量确定土壤、水和空气中的放射性水平,进而识别潜在的环境放射性污染。然而,由于建筑材料和土壤等物质中的天然放射性核素衰变释放的γ辐射对屏蔽室的测量结果有较大的干扰,因此通常采用原子序数高、密度大的金属材料制造而成的屏蔽室来创造低γ本底环境,以提高γ谱仪的灵敏度以及测量结果的准确度。
2、根据中国国家标准gb/t 11713-2015的要求,在放射性测量过程中,探测器应置于厚度至少为10cm铅当量的金属屏蔽室中。目前主流的低本底γ谱仪屏蔽室均采用10cm以上厚度的铅作为主屏蔽层,然而该设计仍存在一些问题。首先,低本底铅材价格昂贵,以低本底铅材作为主要材料的屏蔽室制造成本高;其次,铅屏蔽室的重量较大,可移动性差;此外,铅质地柔软,建设
...【技术保护点】
1.一种用于低本底γ谱仪的复合金属材料屏蔽室,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的屏蔽室,其特征在于,还包括:
3.根据权利要求2所述的屏蔽室,其特征在于,其中所述第一层设于主体最外侧,所述第二层设于所述第一层的内侧,所述第三层设于所述第二层的内侧,所述第四层设于所述第三层的内侧。
4.根据权利要求3所述的屏蔽室,其特征在于,其中所述第一层的厚度大于所述第二层的厚度,所述第二层的厚度大于第三层的厚度,所述第三层的厚度小于第四层的厚度。
5.根据权利要求4所述的屏蔽室,其特征在于,其中所述第一层的厚度为10㎝,所述
...【技术特征摘要】
1.一种用于低本底γ谱仪的复合金属材料屏蔽室,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的屏蔽室,其特征在于,还包括:
3.根据权利要求2所述的屏蔽室,其特征在于,其中所述第一层设于主体最外侧,所述第二层设于所述第一层的内侧,所述第三层设于所述第二层的内侧,所述第四层设于所述第三层的内侧。
4.根据权利要求3所述的屏蔽室,其特征在于,其中所述第一层的厚度大于所述第二层的厚度,所述第二层的厚度大于第三层的厚度,所述第三层的厚度小于第四层的厚度。
5.根据权利要求4所述的屏蔽室,其特征在于,其中所述第一层的厚度为10㎝,所述第二层的厚度为5㎝,所述第三层的厚度为0.5㎝,所述第四层的厚度为1㎝。
6.根据权利要求3所述的屏蔽室,其特征在于,其中所述第一层包括第一顶板、第一底板、第一左板、第一右板和第一后板,所述第一顶板、第一底板、第一左板、第一右板和第一后板固定连接围成所述第一层,所述第一右板通过转轴与所述屏蔽门转动连接,以便完成所述屏蔽门的开启与关闭工作。
7.根据权利要求3所述的屏蔽室,其特征在于,其中所述第二层...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘圆圆,王宇,吴彬,王力,程建平,
申请(专利权)人:北京师范大学,
类型:新型
国别省市:
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