一种高低双针测试针块模组制造技术

本发明专利技术公开了一种高低双针测试针块模组，旨在提供一种结构简单、定位精准、连接范围大、可适配存在高度差的电子产品进行测试的高低双针测试针块模组。本发明专利技术包括针块模组和探针模组，所述针块模组包括上针块和下针块，所述上针块上端面中部设置低于外围的阶梯面，所述探针模组包括第一探针和第二探针，所述上针块外围和所述阶梯面分别设置有若干第一探针槽和若干第一探针槽，所述下针块外围和中部分别设置若干第一探针孔和若干第二探针孔，若干所述第一探针和若干所述第二探针分别与若干所述第一探针槽、若干所述第一探针槽、若干所述第一探针孔和若干所述第二探针孔相配合。本发明专利技术应用于针块模组的技术领域。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术应用于针块模组的,特别涉及一种高低双针测试针块模组。

技术介绍

1、随着现代消费电子产品的快速迭代，电子产品的尺寸也不断减小，对应的电子产品上的被测点位的尺寸也不断减小，如果想在大型自动化测试机台上对电子产品进行精确测试，就需要引入视觉识别进行对位，视觉对位可以识别电子产品上的mark点与针块模组上的mark点，对上述两个mark点的相对位置进行校对，从而达到对电子产品进行精确扎针并测试的目的，现有的非标测试行业中,常使用四线式的方法,满足对产品的精确测量,测量精度可以到达0.1ω。四线式测试中,最为常见的是使用两根探针作为独立一组,引出四线,两根探针对同一个测试点位进行测试。由于被测产品的直径不断减小,限制了一组探针的pitch的大小,双针四线式的测试方式对针块的加工工艺和探针工艺的精度要求日益严苛。现有测试模组的探针处于同一平面上，理论上只能对被测试点位在同一平面上的产品进行测试，当被测点位分别处在多个平面上，也就是具有高度差的产品进行测试时，现有的测试模组结构就不再适用。本专利技术的探针针尖处在多个平面上，可以对测试点位具有高度差的产品进行本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种高低双针测试针块模组，包括针块模组（1）和探针模组（2），其特征在于：所述针块模组（1）包括上针块（11）和下针块（12），所述上针块（11）上端面中部设置低于外围的阶梯面（3），所述探针模组（2）包括第一探针（21）和第二探针（22），所述上针块（11）外围和所述阶梯面（3）分别设置有若干第一探针槽（41）和若干第一探针槽（42），所述下针块（12）外围和中部分别设置若干第一探针孔（43）和若干第二探针孔（44），若干所述第一探针（21）和若干所述第二探针（22）分别与若干所述第一探针槽（41）、若干所述第一探针槽（42）、若干所述第一探针孔（43）和若干所述第二探针孔（44）...

【技术特征摘要】

1.一种高低双针测试针块模组，包括针块模组（1）和探针模组（2），其特征在于：所述针块模组（1）包括上针块（11）和下针块（12），所述上针块（11）上端面中部设置低于外围的阶梯面（3），所述探针模组（2）包括第一探针（21）和第二探针（22），所述上针块（11）外围和所述阶梯面（3）分别设置有若干第一探针槽（41）和若干第一探针槽（42），所述下针块（12）外围和中部分别设置若干第一探针孔（43）和若干第二探针孔（44），若干所述第一探针（21）和若干所述第二探针（22）分别与若干所述第一探针槽（41）、若干所述第一探针槽（42）、若干所述第一探针孔（43）和若干所述第二探针孔（44）相配合。

2.根据权利要求1所述的一种高低双针测试针块模组，其特征在于：所述第一探针（21）和所述第二探针（22）长度不同，所述第一探针（21）长度与所述上针块（11）外围高度相适配，所述第二探针（22）长度与所述阶梯面（3）高度相适配。

3.根据权利要求1所述的一种高低双针测试针块模组，其特征在于：所述上针块（11）和所述下针块（12）通过若干针块螺丝（5）相连接。

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【专利技术属性】
技术研发人员：张宇辉，梁祖荣，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：发明
国别省市：