试料测定装置、试料测定方法以及试料测定程序制造方法及图纸

细胞培养分析装置(1)具备电压施加部(11a)、电流测定部(11b)、电压测定部(11c)、解析部(42)。电压施加部(11a)在将包含作用极、对极、参考极在内的检测部(31a)浸渍于培养基(X)的状态下对传感器(30)的检测部(31a)施加电压。电流测定部(11b)测定由于对检测部(31a)施加的电压而流过传感器(30)的电流值。解析部(42)基于电流测定部(11b)的测定结果来算出培养基中所含的葡萄糖等的浓度。电压测定部(11c)在电压施加部(11a)施加电压的状态下测定检测部(31a)中所含的对极的端子电压。解析部(42)基于电压测定部(11c)中测定的对极的端子电压来检测测定错误。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术例如涉及在进行细胞培养时进行试料的测定的试料测定装置、试料测定方法以及试料测定程序。

技术介绍

1、现有的细胞培养分析装置具备：基体；固定在设于基体的贯通孔部分的传感器；和与传感器连接并用于取出信号的引线。

2、例如，在专利文献1中，公开了在浸渍于液体细胞培养基的状态下进行培养基内的细胞培养环境的测定的传感器。

3、在专利文献2中，公开了具备用于在培养基配置传感器的升降机构(升降机)的结构。

4、在专利文献3中，公开了在培养基内浸渍传感器来分析容器内的培养基中所含的细胞的装置以及方法。

5、先行技术文献

6、专利文献

7、专利文献1：美国专利申请公开第2014/0186876号说明书

8、专利文献2：美国专利申请公开第2016/0077083号说明书

9、专利文献3：美国专利第7638321号说明书

技术实现思路

1、但在上述现有的传感器、装置以及方法中，有以下所示那样的问题点。>

2、一般，细本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种试料测定装置，具备：

2.根据权利要求1所述的试料测定装置，其中，

3.根据权利要求2所述的试料测定装置，其中，

4.根据权利要求3所述的试料测定装置，其中，

5.根据权利要求1～4中任一项所述的试料测定装置，其中，

6.根据权利要求5所述的试料测定装置，其中，

7.根据权利要求6所述的试料测定装置，其中，

8.根据权利要求7所述的试料测定装置，其中，

9.根据权利要求1～8中任一项所述的试料测定装置，其中，

10.根据权利要求1～9中任一项所述的试料测定装置，其中，...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种试料测定装置，具备：

2.根据权利要求1所述的试料测定装置，其中，

3.根据权利要求2所述的试料测定装置，其中，

4.根据权利要求3所述的试料测定装置，其中，

5.根据权利要求1～4中任一项所述的试料测定装置，其中，

6.根据权利要求5所述的试料测定装置，其中，

7.根据权利要求6所述的试料测定装置，其中，

8.根据权利要求7所述的试料测定装置，其中，

9...

【专利技术属性】
技术研发人员：池谷生一郎，藤田纯孝，福本悟史，
申请(专利权)人：普和希控股公司，
类型：发明
国别省市：