【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及基于光纤的角度传感，尤其涉及一种基于垂直型光纤f-p腔的角度传感器及其应用。
技术介绍
1、目前的角度传感器中，主要是通过电磁感应原理和电容原理。其中电磁感应原理是使用磁场和线圈之间的相互作用来测量旋转角度，根据磁场的变化或线圈的位置变化来产生相应的角度信号；电容原理是利用电容的变化来测量物体的旋转角度，当物体旋转时，电容器的容量发生变化，从而产生与旋转角度相关的电信号。然而，在拥有强电磁干扰的条件下这些传感器均会因为电磁干扰而不能正常发挥作用。因此，发张基于光学的角度传感器对强电磁干扰条件下的角度传感具有较为重要的意义。
2、基于此，本专利技术提出了一种基于垂直型光纤f-p腔的角度传感器及其应用。
3、当45°斜切镀银膜单模光纤与半径递增的螺旋结构聚二甲基硅氧烷薄膜之间产生的角度变化会导致二者之间的f-p腔腔长变化，进而引起腔内相位差的变化。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于解决现有技术中存在的技术问题，提供基于光纤的角度传感
【技术保护点】
1.一种基于垂直型光纤F-P腔的角度传感器，其特征在于：包括45°斜切镀银膜单模光纤(1)、半径递增的螺旋结构聚二甲基硅氧烷薄膜(2)、聚氯乙烯光纤套筒(3)和聚氯乙烯底座(4)，45°斜切镀银膜单模光纤(1)与半径递增的螺旋结构聚二甲基硅氧烷薄膜(2)垂直放置，使得45°斜切镀银膜单模光纤(1)出射光与半径递增的螺旋结构聚二甲基硅氧烷薄膜(2)内表面垂直；聚氯乙烯光纤套筒(3)用于固定45°斜切镀银膜单模光纤(1)、聚氯乙烯底座(4)用于封装半径递增的螺旋结构聚二甲基硅氧烷薄膜(2)。
2.根据权利要求1所述的一种基于垂直型光纤F-P腔的角度传感器，其特...
【技术特征摘要】
1.一种基于垂直型光纤f-p腔的角度传感器，其特征在于：包括45°斜切镀银膜单模光纤(1)、半径递增的螺旋结构聚二甲基硅氧烷薄膜(2)、聚氯乙烯光纤套筒(3)和聚氯乙烯底座(4)，45°斜切镀银膜单模光纤(1)与半径递增的螺旋结构聚二甲基硅氧烷薄膜(2)垂直放置，使得45°斜切镀银膜单模光纤(1)出射光与半径递增的螺旋结构聚二甲基硅氧烷薄膜(2)内表面垂直；聚氯乙烯光纤套筒(3)用于固定45°斜切镀银膜单模光纤(1)、聚氯乙烯底座(4)用于封装半径递增的螺旋结构聚二甲基硅氧烷薄膜(2)。
2.根据权利要求1所述的一种基于垂直型光纤f-p腔的角度传感器，其特征在于：使用时，将聚氯乙烯底座(4)固定在待测转动物体的表面轴心处，45°斜切镀银膜单模光纤(1)的侧壁与半径递增的螺旋结构聚二甲基硅氧烷薄膜(2)内表面形成干涉腔。
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【专利技术属性】
技术研发人员：李泽鑫，万生鹏，喻俊松，陈达如，凌强，
申请(专利权)人：南昌航空大学，
类型：发明
国别省市：
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