在SAI THRIFT环境下测试IFA的方法、装置及设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种在SAI THRIFT环境下测试IFA的方法、装置及设备，方法包括：在PTF测试脚本中：对DUT设备进行当前阶段节点的IFA参数配置；构造一份常规的测试数据流，并发送到所述DUT设备上；至少检查从DUT设备上发出的IFA报文的IFA metadata是否符合预期，若符合则暂存所述IFA报文；删除DUT设备上配置的IFA参数；对DUT设备进行下一阶段节点的IFA参数配置；将暂存的所述IFA报文的信息根据配置环境做相应的修改，然后发送到DUT设备上去。本发明专利技术可以在一台设备上模拟出IFA的系统测试，并且随着IFA域内IFA节点数量的变化可以方便的进行扩展测试，提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片领域，尤其涉及一种sai thrift环境下测试ifa的方法、装置及设备。

技术介绍

1、sai thrift是一套基于thrift技术的sai功能测试框架，如图1所示，其由一台服务器(test machine)和一台被测设备(dut，device under test)组成，服务器的网卡与被测设备的网络端口直连。dut作为sai thrift测试server的角色，服务器test machine作为sai thrift测试的client角色。在被测设备switch上运行sai server container，也称为thrift test server；使用一台安装多intf网卡的服务器作为test machine，也称为saithrift test client，服务器接口与被测试设备存在物理连接；在sai thrift testclient上执行测试ptf脚本，测试被测设备的功能和性能。当前测试设备与测试服务器，使用了多个网络端口互联，以进行设备的功能测试。test machine服务器先远程调用dut上的sai对外接口，进行dev本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种在SAI THRIFT环境下测试IFA的方法，其特征在于，包括：在PTF测试脚本中：

2.根据权利要求1所述的在SAI THRIFT环境下测试IFA的方法，其特征在于，节点根据其阶段依次包括Initiator节点、Transit节点、Terminator节点。

3.根据权利要求2所述的在SAI THRIFT环境下测试IFA的方法，其特征在于，若当前阶段节点为Initiator节点，则还同时检查从DUT设备上发出的IFA报文的IFA head及IFAmetadata是否符合预期，若不符合预期则结束测试。

4.根据权利要求1所述的在SAI THRI...

【技术特征摘要】

1.一种在sai thrift环境下测试ifa的方法，其特征在于，包括：在ptf测试脚本中：

2.根据权利要求1所述的在sai thrift环境下测试ifa的方法，其特征在于，节点根据其阶段依次包括initiator节点、transit节点、terminator节点。

3.根据权利要求2所述的在sai thrift环境下测试ifa的方法，其特征在于，若当前阶段节点为initiator节点，则还同时检查从dut设备上发出的ifa报文的ifa head及ifametadata是否符合预期，若不符合预期则结束测试。

4.根据权利要求1所述的在sai thrift环境下测试ifa的方法，其特征在于，所述ifa报文的信息包括dmac、smac、sip、dip、ttl。

5.根据权利要求1所述的在sai thrift环境下测试ifa的方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：张振，李贯中，姚沛，李晓林，陈清华，
申请(专利权)人：云合智网上海技术有限公司，
类型：发明
国别省市：