【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及图像处理，特别涉及一种校正图像动态坏点的方法及装置。
技术介绍
1、图像传感器，是一种将光学图像转换成电子信号的设备，它被广泛地应用在数码相机和其他电子光学设备中。早期的图像传感器采用模拟信号，如摄像管；随着数码技术、半导体制造技术以及网络的迅速发展，目前常用的图像传感器产品主要分为ccd图像传感器、cmos图像传感器两种。
2、ccd和cmos的主要参数包括像元尺寸、灵敏度、坏点数和光谱响应等，其中坏点数是指芯片中的坏点(不能有效成像的像元或相应不一致性大于参数允许范围的像元)的数量，是衡量芯片质量的重要参数。但是由于受到制造工艺的限制，对于有几百万像素点的传感器而言，所有的像元都是好的情况几乎不太可能，因此不可避免地会在采集到的原始图像上产生一些坏点，此外，由于图像传感器硬件原因，在采集原始图像时还会随机地产生一些位置不固定的坏点，行业内将这种坏点称之为动态坏点。若不对这些坏点进行后期的校正处理，则这些坏点会因后续的去马赛克和各种图像滤波操作等向周围扩散形成带颜色的点簇，显著降低图像质量，影响观感。
...【技术保护点】
1.一种校正图像动态坏点的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的校正图像动态坏点的方法，其特征在于，以Raw图像中的当前目标像素为基准，提取2行9列的缓存窗口，所述缓存窗口中的像素记为buff(x,y)，其中，x表示像素在缓存窗口中的行坐标，按行从左到右的顺序，x＝0,1；y表示像素在缓存窗口中的列坐标，按列从上到下的顺序，
3.根据权利要求2所述的校正图像动态坏点的方法，其特征在于，所述预设区域为2行7列的缓存窗口，所述预设区域中的像素记为Estbuff(x,y)，其中，x表示像素在预设区域中的行坐标，按行从左到右的顺序，x＝0,...
【技术特征摘要】
1.一种校正图像动态坏点的方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的校正图像动态坏点的方法，其特征在于，以raw图像中的当前目标像素为基准，提取2行9列的缓存窗口，所述缓存窗口中的像素记为buff(x,y)，其中，x表示像素在缓存窗口中的行坐标，按行从左到右的顺序，x＝0,1；y表示像素在缓存窗口中的列坐标，按列从上到下的顺序，
3.根据权利要求2所述的校正图像动态坏点的方法，其特征在于，所述预设区域为2行7列的缓存窗口，所述预设区域中的像素记为estbuff(x,y)，其中，x表示像素在预设区域中的行坐标，按行从左到右的顺序，x＝0,1；y表示像素在预设区域中的列坐标，按列从上到下的顺序，y＝0,1,……,6；
4.根据权利要求3所述的校正图像动态坏点的方法，其特征在于，所述计算当前目标像素的所有同色像素值的方法包括：
5.根据权利要求4所述的校正图像动态坏点的方法，其特征在于，若当前目标像素为g，则所述根据estbuff(x,y)与buff(x,y)的对应关系，在预设区域中插值计算出当前目标像素的同色像素值的方法包括：
6.根据权利要求4所述的校正图像动态坏点的方法，其特征在于，若当前目标像素为r或b，则所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：帅珂，宋博，王勇，温建新，
申请(专利权)人：成都微光集电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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