【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路的可靠性研究,具体为基于平稳时间序列分析的集成电路特征参数提取方法。
技术介绍
1、作为我国各行各业不可或缺的“粮食”,集成电路采用一定的工艺,将电路所需要的电气元件,晶体管、电阻、电感和电容等以布线的方式互连在一起,制作在半导体晶片上,并封装成一个整体,也被称为电路小型化。集成电路的高可靠性,是实现国际集成电路高水平技术指标之一。
2、集成电路特征参数提取的关键是有效滤除噪声和抑制干扰,在集成电路的可靠性研究中,采集的电气量数据一般存在随机白噪声干扰、高频干扰和电磁干扰等。当前,针对上述噪声干扰,主要采取的消噪方法包括卡尔曼滤波法、fft的阈值法、自适应滤波法和平稳时间序列等。其中,卡尔曼滤波和自适应滤波需要大量的计算,计算时间成本高;fft阈值法可抑制周期性的窄带干扰,但是信号会存在较大的失真,同时对其它干扰的抑制效果不佳;平稳时间序列分析可以通过信号和时间序列的关系简单地将随机白噪声和有效信号进行分离,但是对于高频干扰噪声,特别是高频开关信号导致的噪声,抑制效果不明显。
3、基于小波分
...【技术保护点】
1.基于平稳时间序列分析的集成电路特征参数提取方法,其特征在于:包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的基于平稳时间序列分析的集成电路特征参数提取方法,其特征在于:步骤11中将A={a1,a2,…,an}定义为集成电路的电气量数据集,其中,n为电气量数据的数量,数据集A中,每一个数据的特征向量都是一个p维矢量,集成电路的类型有M种,以mi代表第i种电气量。
3.根据权利要求1所述的基于平稳时间序列分析的集成电路特征参数提取方法,其特征在于:步骤14中电气量数据信息的状态方程为:
4.根据权利要求1所述的基于平稳时间序列分析的集成电路
...【技术特征摘要】
1.基于平稳时间序列分析的集成电路特征参数提取方法,其特征在于:包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的基于平稳时间序列分析的集成电路特征参数提取方法,其特征在于:步骤11中将a={a1,a2,…,an}定义为集成电路的电气量数据集,其中,n为电气量数据的数量,数据集a中,每一个数据的特征向量都是一个p维矢量,集成电路的类型有m种,以mi代表第i种电气量。
3.根据权利要求1所述的基于平稳时间序列分析的集成电路特征参数提取方法,其特征在...
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