一种用于集成电路芯片测试分选的控制电路制造技术

本技术提供了一种用于集成电路芯片测试分选的控制电路，包括电源隔离变换级、第一整流滤波电路以及第二整流滤波电路；所述电源隔离变换级包括高频电源VHF以及高频变压器T1；所述高频电源VH跨接于所述高频变压器T1的原边绕组，所述高频变压器T1还包括第一次级绕组（21）以及第二次级绕组（22）；应用本技术方案可实现有效降低电源纹波与噪声，同时减少电路板使用面积。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及仪器仪表及半导体自动测试，特别是一种用于集成电路芯片测试分选的控制电路。

技术介绍

1、ate是automatic test equipment即自动测试设备的简称,主要用于集成电路、分立半导体器件在生产制造过程中的功能、性能测试，也用于器件研发阶段的设计验证；针对模拟器件进行测试的ate需要为被测设备（device under test以下简称dut）提供从uv到kv，从na到数百安培的激励信号；提供这些激励的是源测单元（soutce measurement unit简称smu），为了实现最佳的测试性能或是dut电气方面的强制需求，有时候这些smu还要求相互之间是电气隔离的；因此ate内部通常具有一个非常复杂的电源系统。

2、相互隔离的需求以实体电路组件的形式落实到现代ate多达数十甚至数百上千个smu的工程实践中是灾难性的；即使以数个smu为一组仅仅实现组间隔离，也消耗了大量的pcb空间或设备空间；为了实现隔离传统的做法主要有两种：一是将220vac电源接于各个板卡并在板卡上做ac/dc隔离变换；二是配备许多的ac/dc模块隔离电本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于集成电路芯片测试分选的控制电路，其特征在于，包括电源隔离变换级、第一整流滤波电路以及第二整流滤波电路；

2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片测试分选的控制电路，其特征在于，所述源测量单元SMU1n从电源调节电路VREG1n接入电源，源测量单元SMU1n的输出与负载DUT1n相连。

3.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片测试分选的控制电路，其特征在于，第一DAC的输出端子与第一电源调节电路FREG11至第n电源调节电路VREG1n的电源调节端子相连。

4.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片测试分选的控制电路，其特征在于，所...

【技术特征摘要】

1.一种用于集成电路芯片测试分选的控制电路，其特征在于，包括电源隔离变换级、第一整流滤波电路以及第二整流滤波电路；

2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片测试分选的控制电路，其特征在于，所述源测量单元smu1n从电源调节电路vreg1n接入电源，源测量单元smu1n的输出与负载dut1n相连。

3.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片测试分选的控制电路，其特征在于，第一dac的输出端子与第一电源调节电路freg11至第n电源调节电路vreg1n的电源调节端子相连。

【专利技术属性】
技术研发人员：林少松，林康生，陈仕铭，
申请(专利权)人：福州派利德电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：