延迟时间控制电路于电池保护器中减少延迟时间制造技术

本发明专利技术提供一电池保护ＩＣ，该电池保护ＩＣ使用充电控制接脚Ｃｏｕｔ作为ＩＣ测试（ＣＰ或ＦＴ测试）时使用，以减少延迟时间，该电池保护ＩＣ具有一延迟时间控制电路、一比较器以及一信号延迟选择器，该比较器具有一负输入端、一正输入端以及一输出端，该负输入端与ＶＣＣ相连接，该正输入端与该Ｃｏｕｔ接脚相连接，该输出端与该信号延迟选择器相连接；为了执行上述的测试，加入一电压源以触发该短延迟时间模块，而非触发一常规延迟时间模块。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是关于一延迟时间控制电路，特别是指一电池保护集成电路，该电池保护整合电路嵌入一延迟时间控制电路，因此，执行测试过程时，测试时间可以大幅地减少。
技术介绍
为了保护一相当普遍但不幸地却是相对昂贵的锂离子/锂聚合物可再充电电池，保护锂电可再充电电池以对抗过充或过电流的发生，通常会嵌入电池保护器，或称电池保护ic，为防止误动作例如噪声等问题的去除，现有技术的电池保护器通常有一内部延迟电路。典型的过充延迟时间大约介于0.1秒至2.0秒间。然而，于电池保护IC的测试阶段，为了求得过充条件(overcharge)的参数，许多次的测试是必要的，因此全部所花的时间就相当可观，因此，对大量的保护IC产品作测试是非常不利的；此外， 一般现有技术，如图1所示，包括五内建接脚，VCC、 VSS、 Dout、 COUT、 Vm以及一额外的测试接脚DS以减少执行晶片阶段测试时的延迟时间(CP测试)，以找出过充条件，现有技术对于最后阶段测试时(FT测试，即封装后电池保护IC)，将测试接脚延伸出来是必要的。
技术实现思路
本专利技术的目的是揭示一延迟时间控制电路嵌入于该电池保护IC以减少执行CP或FT测试的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电池保护ＩＣ，当执行晶片测试阶段或最终测试时，该电池保护ＩＣ使用充电控制接脚Ｃｏｕｔ以减少延迟时间，其特征在于，该电池保护ＩＣ包括：　一延迟时间控制电路，具有一比较器以及一信号延迟选择器，其中，该比较器具有一负输入端、一正输入端以 及一输出端，该负输入端与ＶＣＣ相连接，该正输入端与所述的Ｃｏｕｔ接脚相连接，所述的输出端与所述的信号延迟选择器相连接；以及　一电压源，与所述的Ｃｏｕｔ接脚相连接，当执行晶片测试阶段或最终测试时，触动所述的延迟时间控制电路进以减少延迟时 间。

【技术特征摘要】
1.一种电池保护IC，当执行晶片测试阶段或最终测试时，该电池保护IC使用充电控制接脚Cout以减少延迟时间，其特征在于，该电池保护IC包括一延迟时间控制电路，具有一比较器以及一信号延迟选择器，其中，该比较器具有一负输入端、一正输入端以及一输出端，该负输入端与VCC相连接，该正输入端与所述的Cout接脚相连接，所述的输出端与所述的信号延迟选择器相连接；以及一电压源，与所述的Cout接脚相连接，当执行晶片测试阶段或最终测试时，触动所述的延迟时间控制电路进以减少延迟时间。2. 如权利要求1所述的电池保护IC，其特征在于，所述的电压源是用以调整一电压，所述的电压介于0.1V至0.6V间。3. 如权利要求2所述的电池保护IC，其特征在于，所述的电压源的调整与所述的比较器有关。4. 如权利要求1所述的电池保护IC，其特征在于，所述的电池保护IC还包含一电流探针，该电流探针是用以检测流通所述的Cout接脚的电流变化。5. —种电池保护IC中具有一延迟时间控制电路的装置，是用以提供执行晶片测试阶段或最终测试，其特征在于，该装置包括一电阻器；一第一电压源；一电池电压源；一电池保护IC，具有五接脚、 一比较器、 一...

【专利技术属性】
技术研发人员：施格，
申请(专利权)人：新德科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[]