【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及实验设备测试，具体说是一种高精度实验室天平用环境调试设备。
技术介绍
1、电子天平，用于称量物体质量。电子天平一般采用应变式传感器、电容式传感器、电磁平衡式传感器。应变式传感器，结构简单、造价低，但精度有限。
2、高精度实验室要求要在恒温恒湿的环境中进行实验，在较为昼夜温差较大的地方或寒冷的冬天，由于温度比较低上述专利无法保证恒温，从而可能会因温度不同导致每次检测都会存在一定的误差，影响到高精度实验天平测试的准确性，在高精度天平进行测试的过程中若在室外空气中含尘量较大的环境中进行测试时，若测试的时间较长，则可能会因为尘土的飘落影响到测试结果的准确性，从而影响实验室设备的后期使用。
技术实现思路
1、针对现有技术中的问题，本专利技术提供了一种高精度实验室天平用环境调试设备，通过测试调节组件的设置能够使得测试物体时处于恒温状态，保证高精度测试的环境，同时还能够与外界寒冷环境进行分隔开来，避免外部环境对高精度测试结果造成影响；通过测试空间调节单元的设置能够使得不同高度的...
【技术保护点】
1.一种高精度实验室天平用环境调试设备，包括电子天平（1），电子天平（1）的上表面安装有托盘（11），其特征在于：电子天平（1）的上表面连接有测试调节组件（3），测试调节组件（3）的顶部设置有测试空间调节单元（4）；
2.根据权利要求1所述的一种高精度实验室天平用环境调试设备，其特征在于：测试空间调节单元（4）包括延伸罩（41），底外罩（31）的顶部开设有内调节槽（33），延伸罩（41）的底部滑动插接在内调节槽（33）内，内调节槽（33）内注入有同于密封的液体水，内调节槽（33）的底部固定设置有支撑弹簧（48），支撑弹簧（48）的顶部与延伸罩（41）的底部
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【技术特征摘要】
1.一种高精度实验室天平用环境调试设备，包括电子天平（1），电子天平（1）的上表面安装有托盘（11），其特征在于：电子天平（1）的上表面连接有测试调节组件（3），测试调节组件（3）的顶部设置有测试空间调节单元（4）；
2.根据权利要求1所述的一种高精度实验室天平用环境调试设备，其特征在于：测试空间调节单元（4）包括延伸罩（41），底外罩（31）的顶部开设有内调节槽（33），延伸罩（41）的底部滑动插接在内调节槽（33）内，内调节槽（33）内注入有同于密封的液体水，内调节槽（33）的底部固定设置有支撑弹簧（48），支撑弹簧（48）的顶部与延伸罩（41）的底部接触。
3.根据权利要求2所述的一种高精度实验室天平用环境调试设备，其特征在于：延伸罩（41）的顶部设置有顶罩（42），底外罩（31）的上表面固定连接有半螺杆（43），半螺杆（43）贯穿顶罩（42），半螺杆（43）外壁套设有套接环（44），多个套接环（44）外壁套设有转动带（45）；
4.根据权利要求3所述的一种高精度实验室天平用环境调试设备，其特征在于：底外罩（31）的内壁固定设置有测试单元（6），两组测试单元（6）对称设置，测试单元（6）包括支撑导轨（61），支撑导轨（61）的侧壁开设有侧孔（63），侧孔（63）内滑动设置有滑动三棱块（66），滑动三棱块（66）靠近底外罩（31）中部的一侧设置有支撑盘（67）。
5.根据权利要求4所述的一种高精度实验室天平用环境调试设备，其特征在于：支撑盘（67）的底部固定连接有导线轨（671），导线轨（671）内滑动设置有滑动凸块（68），...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙昊辰，肖延翔，
申请(专利权)人：联公精密测量技术合肥有限公司，
类型：发明
国别省市：
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