【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片，特别涉及一种芯片断点调试装置、方法、设备及存储介质。
技术介绍
1、在芯片的回片测试中，调试是一个非常重要的工作，回片测试是指在芯片制造完成后，将芯片安装到实际的硬件平台上，并进行验证、测试和调试的过程。
2、但是，由于芯片是个物理器件，很难深入到芯片内部观察运行状态数据，相关技术中，为了实现回片测试，通常会用各种状态寄存器去观察芯片的运行状态，然后对芯片的不同的运行状态进行调试。
3、但是，上述方法虽然可以通过各种状态寄存器确定芯片的运行状态，但是较难灵活控制芯片停在需要进行调试的运行状态，从而导致芯片的调试难度大。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了一种芯片断点调试装置、方法、设备及存储介质，能够降低芯片的调试难度。该技术方案如下：
2、根据本申请实施例的第一方面，提供了一种芯片断点调试装置，该装置包括：
3、相互连接的读取模块以及加速器，设置在芯片内部的每个状态寄存器分别与该读取模块以及该加速器连接；
4、...
【技术保护点】
1.一种芯片断点调试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述读取模块生成调试指令，包括：
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，在所述读取模块响应于所述调试指令，对每个所述目标状态寄存器存储的实时运行状态数据进行读取，包括：
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，在所述读取模块响应于所述调试指令，每隔一个预设时钟周期对每个所述目标状态寄存器存储的实时运行状态数据进行一次读取之后，还包括：
5.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，在获取每个所述目标状态寄存器的实时寄存器值之后，还包
6...
【技术特征摘要】
1.一种芯片断点调试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述读取模块生成调试指令，包括：
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，在所述读取模块响应于所述调试指令，对每个所述目标状态寄存器存储的实时运行状态数据进行读取，包括：
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，在所述读取模块响应于所述调试指令，每隔一个预设时钟周期对每个所述目标状态寄存器存储的实时运行状态数据进行一次读取之后，还包括：
5.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，在获取每个所述目标状态寄存器的实时寄存器值之后，还包括：
6.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述当每个目标状态寄存器的所述实...
【专利技术属性】
技术研发人员：王远，从勇，
申请(专利权)人：爱芯元智半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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