【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体器件,更具体地说,涉及一种垂直腔面发射激光器及其制备方法。
技术介绍
1、垂直腔面发射激光器(vertical-cavity surface-emitting laser,vcsel)是一种半导体微腔激光器,相较于传统的边发射激光器,垂直腔面发射激光器由于具有低阈值电流、体积小、圆对称光斑易于光纤耦合、高光束质量、单纵模、面发射易于集成等优势,使其在近年来得到了迅猛的发展,广泛应用于人脸识别等三维传感、光通信、激光雷达、无人驾驶等领域中;其中红光波段的垂直腔面发射激光器可应用于dvd读写,条形码扫描,葡萄糖监测,通过塑料光纤的数据通信,光学传感等方面。
2、红光波段的垂直腔面发射激光器的有源区结构不同于红外850nm波段和940nm波段的垂直腔面发射激光器的有源区结构,红外850nm波段和940nm波段的垂直腔面发射激光器的有源区结构通常采用的algaas/ingaas mqw材料体系,红光波段的垂直腔面发射激光器的有源区结构采用algainp/gainp mqw材料体系;但是algainp/gainp
...【技术保护点】
1.一种垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述垂直腔面发射激光器包括:
2.根据权利要求1所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述第一限制层中掺杂Sb元素的掺杂浓度大于所述第二限制层中掺杂Sb元素的掺杂浓度。
3.根据权利要求2所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述第一限制层中掺杂Sb元素的掺杂浓度的取值范围为1E17cm-3-5E19cm-3;
4.根据权利要求1所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述Alx1GaInyP垒层的Al组分的取值范围为0.1≤x1≤0.4。
5.根据权利要求4所述的垂直腔面发射激光器
...【技术特征摘要】
1.一种垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述垂直腔面发射激光器包括:
2.根据权利要求1所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述第一限制层中掺杂sb元素的掺杂浓度大于所述第二限制层中掺杂sb元素的掺杂浓度。
3.根据权利要求2所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述第一限制层中掺杂sb元素的掺杂浓度的取值范围为1e17cm-3-5e19cm-3;
4.根据权利要求1所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述alx1gainyp垒层的al组分的取值范围为0.1≤x1≤0.4。
5.根据权利要求4所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述第一限制层的材料为alx2gainyp材料,所述第二限制层的材料为alx2gainyp材料,x1≤x2。
6.根据权利要求1所述的垂直腔面发射激光器,其特征在于,所述alx1ga...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴真龙,张鹏,曼玉选,
申请(专利权)人:扬州乾照光电有限公司,
类型:发明
国别省市:
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