宇宙射线影响系数与飞行器和仪器综合本底快速获取方法技术

本发明专利技术涉及一种宇宙射线影响系数与飞行器和仪器综合本底快速获取方法，包括步骤：a.设定高高度飞行区域；b.飞行器在起降点起飞；c.当飞行器飞至高高度飞行区域内第一海拔高度时，开始记录γ能谱全谱数据；d.飞行器从第一海拔高度爬升至第二海拔高度；e.飞行器从第二海拔高度下降至第一海拔高度，停止记录数据；f.飞行器返回起降点；g.为各能窗设定能量窗宽；h.累加各能窗计数率；i.COS计数率分别与各能窗计数率进行线性拟合，求解宇宙射线影响系数与飞行器和仪器综合本底。采用本发明专利技术的方法计算宇宙射线的影响系数和飞行器和仪器综合本底，在结果与现有方法基本相同的情况下，能够明显减少测量时间、降低成本、提高生产效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种航空γ能谱测量技术，具体地说是一种宇宙射线影响系数与飞行器和仪器综合本底快速获取方法。

技术介绍

1、采用大体积nai(tl)探测器γ能谱仪测量技术进行航空γ能谱测量是寻找矿产和进行辐射环境航空监测的有效方法。

2、大体积nai(tl)探测器γ能谱仪的校准是最终能否获取准确结果的关键因素之一。大体积nai(tl)探测器γ能谱仪的校准通常包括高高度飞行测试、航空模型地面测试、雷达高度计飞行测试、地面动态校准带测试，人工核素平面源测试等内容。

3、其中，高高度飞行是为了获取宇宙射线的影响系数与飞行器和仪器综合本底。高高度飞行通常是在远离陆地的海域上空进行，经过飞行器起飞，飞行器飞到水域海拔1800米高度，然后在1800米至4800米之间等间距抽选5个高度层平飞进行测量。每个高度层大体积nai(tl)探测器γ能谱仪测量600秒，之后飞行器返回起降点。对这5个高度层记录的总窗计数率、钾窗计数率、铀窗计数率、钍窗计数率、137cs窗计数率、60co窗计数率、宇宙射线窗计数率等能窗计数进行平均值统计；采用宇宙射线窗计数率分别与本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种宇宙射线影响系数与飞行器和仪器综合本底快速获取方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的宇宙射线影响系数与飞行器和仪器综合本底快速获取方法，其特征在于，在步骤i中，建立的线性方程拟合公式如下：

3.根据权利要求1所述的宇宙射线影响系数与飞行器和仪器综合本底快速获取方法，其特征在于，在步骤g中，大于3MeV能量的γ射线数据保存到宇宙射线窗（COS），总窗（TC）数据为除最后一道外所有能谱各道数据的和，钾窗（K）、铀窗（U）、钍窗（Th）、137Cs窗（Cs）、60Co窗（Co）的窗宽各自分别按照钾核素、铀核素、钍核素、137Cs核素、60Co...

【技术特征摘要】

1.一种宇宙射线影响系数与飞行器和仪器综合本底快速获取方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的宇宙射线影响系数与飞行器和仪器综合本底快速获取方法，其特征在于，在步骤i中，建立的线性方程拟合公式如下：

3.根据权利要求1所述的宇宙射线影响系数与飞行器和仪器综合本底快速获取方法，其特征在于，在步骤g中，大于3mev能量的γ射线数据保存到宇宙射线窗（cos），总窗（tc）数据为除最后一道外所有能谱各道数据的和，钾窗（k）、铀窗（u）、钍窗（th）、137cs窗（cs）、60co窗（co）的窗宽各自分别按照钾核素、铀核素、钍核素、137cs核素、60co核素能量e和其能峰正态分布的均方根差确定其窗宽。

4.根据权利要求1所述的宇宙射线影响系数与飞行器和仪器综合本底快速获取方法，其特征在于，k窗窗宽为（1460.8-3δk）kev~（1460.8+3δk）kev， u窗窗宽为（1764.5-3δu）kev~（1764.5+3δu）kev，th窗窗宽为（2614.5-3δth）k...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨金政，房江奇，张文峰，安政伟，汪哲，刘林峰，刘学，徐国苍，
申请(专利权)人：核工业航测遥感中心，
类型：发明
国别省市：