【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及图像处理，更具体地，涉及基于最小二乘法对点云平面尺寸测量的提升方法。
技术介绍
1、基于点云的平面尺寸测量的精确度往往受制于深度相机自身的精度以及深度相机与待测平面的距离。深度相机自身的精度低下和与待测平面之间的距离会导致点云的波动，这种波动越大，点云的质量越低。而基于点云的平面尺寸测量方法是计算点云中点与点之间的欧式距离，因此当点云出现波动时尺寸测量的精度就会受到极大的影响。
2、点云测距过程中还会面临点云缺失的问题，这种缺失往往是由于被测平面颜色过浅(如白色)或者表面过于光滑(如镜面)所导致的，这是由深度相机的成像原理所决定的，无法避免。因此如果测量点恰巧位于点云缺失的区域则会直接导致无法测量。
3、如图1所示，设a1点至b1点之间的曲线段为l1，a1点至b1点之间的直线距离为d1；设a2点至b2点之间的曲线段为l2，a2点至b2点之间的直线距离为d2；设a3点至b3点之间的曲线段为l3，a3点至b3点之间的直线距离为d3；设a4点至b4点之间的曲线段为l4，a4点至b4点之间的直线距离为d4。...
【技术保护点】
1.基于最小二乘法对点云平面尺寸测量的提升方法，其特征在于，该算法包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的基于最小二乘法对点云平面尺寸测量的提升方法，其特征在于，所述最小二乘法求解过程为：
3.根据权利要求1所述的基于最小二乘法对点云平面尺寸测量的提升方法，其特征在于，所述点云下速度下降时，通过对点云基于体素方法的降采样解决问题。
4.根据权利要求3所述的基于最小二乘法对点云平面尺寸测量的提升方法，其特征在于，所述降采样为减小数据大小或数据传输速率。
5.根据权利要求1所述的基于最小二乘法对点云平面尺寸测量的提升方法，其...
【技术特征摘要】
1.基于最小二乘法对点云平面尺寸测量的提升方法，其特征在于，该算法包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的基于最小二乘法对点云平面尺寸测量的提升方法，其特征在于，所述最小二乘法求解过程为：
3.根据权利要求1所述的基于最小二乘法对点云平面尺寸测量的提升方法，其特征在于，所述点云下速度下降时，通过对点云基于体素方法的降采样解决问题。
4.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：齐良春，唐俊宇，罗启睿，刘晨，郭铁，舒琪惠，万亚光，张峻瑜，李惠天，
申请(专利权)人：红云红河烟草集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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