检测方法、存储介质、电子设备及程序产品技术

本发明专利技术涉及故障检测技术领域，公开了一种检测方法、存储介质、电子设备及程序产品，电子设备在运行大数运算的过程中，若检测到的检测指令，可直接在当前运行的大数运算中插入节点，以在该节点处基于检测指令对在先已完成运行的大数运算所对应的硬件组件进行检测，无需等待当前运行的大数运算完成。也即是说，电子设备运行过程中的检测时间可按照STL的检测周期确定，不会被当前运行的大数运算打断或延长，进而满足FDTI的要求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及故障检测，尤其涉及一种检测方法、存储介质、电子设备及程序产品。

技术介绍

1、在设备运行过程中，设备的故障检测是关键，通过设备中计算机处理器(centralprocessing unit，cpu)上运行的软件测试库(software testing library，stl)，可以对设备运行过程中对应运行运算的硬件组件进行检测，从而实现前述故障检测。

2、然而，当设备在运行较为复杂的运算时，如设备在执行超长的模幂运算(modexp)、除法运算(div)、模逆运算(modinv)等运算时，stl可能难以及时对在先已完成运行的硬件组件进行检测，从而可能会导致错误结果被使用。

技术实现思路

1、本专利技术实施例提供了一种检测方法、存储介质、电子设备及程序产品。

2、第一方面，本专利技术提供了一种检测方法，应用于电子设备，该方法包括：电子设备在运行第一大数运算的过程中，检测到第一检测指令；在第一大数运算中插入第一节点，并对第一节点进行缓存；在第一节点基于第一检测指令，对第一大数运算本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种检测方法，应用于电子设备，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述第一大数运算中插入第一节点，并对所述第一节点进行缓存，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，所述在所述第一大数运算中插入第一节点，并对所述第一节点进行缓存，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，所述基于所述第一大数运算的运算类型，确定对应所述第一大数运算的第一位置，包括：

5.根据权利要求2至4任一所述的方法，其特征在于，所述对所述第一大数运算之前已完成运行的至少一个第二大数运算所对应的第一组件进行检测，包括：>

6.根据权利...

【技术特征摘要】

1.一种检测方法，应用于电子设备，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在所述第一大数运算中插入第一节点，并对所述第一节点进行缓存，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，所述在所述第一大数运算中插入第一节点，并对所述第一节点进行缓存，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，所述基于所述第一大数运算的运算类型，确定对应所述第一大数运算的第一位置，包括：

5.根据权利要求2至4任一所述的方法，其特征在于，所述对所述第一大数运算之前已完成运行的至少一个第二大数运算所对应的第一组件进行检测，包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电子设备...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈卫杰，
申请(专利权)人：安谋科技中国有限公司，
类型：发明
国别省市：