一种强流电子束的测量装置及测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及强流电子束测量装置及方法，以解决现有技术中无法快速、准确且简便地测试强流电子束的品质的技术问题。本发明专利技术提供的一种强流电子束的测量装置及测量方法，装置包括石墨吸收体，石墨吸收体的底部嵌设有K型热电偶，K型热电偶的两个测量线穿过第一连接孔置于与石墨吸收体相应的铜管内；铜质支撑板底部嵌设有多个与管组的铜管位置一一对应的导热绝缘体，铜质支撑板上开设有多个用于将导热绝缘体顶部与相应铜管的下开口端连通的第二连接孔；任一K型热电偶的两个测量线穿过对应的第二连接孔和导热绝缘体后伸出至铜质支撑板底部，并通过多通道数据采集卡接入数据记录仪；方法包括上述的装置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及强流电子束测量装置及方法，具体涉及一种强流电子束的测量装置及测量方法。

技术介绍

1、随着技术的不断发展，强流电子束的应用越来越广泛，例如可以模拟x射线，并代替x射线用于对材料的热-力学效应进行研究。

2、然而，在实际应用中，对强流电子束的品质要求较高，特别是电子束能注量、电子束斑面积及电子束的均匀性等方面。为了确保强流电子束的品质，通常会使用束流诊断系统对其进行测试。

3、现有的束流诊断系统一般采用多种测量手段，如电离室、荧光屏、ccd相机等，以获取强流电子束的各项参数。这些测量手段虽然可以获得较为准确的数据，但通常需要耗费较长的时间，且操作复杂，不利于快速、准确地判断强流电子束的品质。

4、因此，如何快速、准确且简便地测试强流电子束的品质，成为了当前亟待解决的问题。

技术实现思路

1、本专利技术的目的是解决现有技术中无法快速、准确且简便地测试强流电子束的品质的技术问题，而提供一种强流电子束的测量装置及测量方法。

2、为解决上述技术问题，本专利技本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种强流电子束的测量装置，其特征在于：包括由上至下依次分布的石墨吸收体阵列(2)、聚四氟乙烯绝热板(3)、管组(4)和铜质支撑板(7)；

2.根据权利要求1所述的强流电子束的测量装置，其特征在于：

3.根据权利要求2所述的强流电子束的测量装置，其特征在于：

4.根据权利要求3所述的强流电子束的测量装置，其特征在于：

5.根据权利要求4所述的强流电子束的测量装置，其特征在于：

6.根据权利要求5所述的强流电子束的测量装置，其特征在于：

7.根据权利要求6所述的强流电子束的测量装置，其特征在于：</p>

8.根据...

【技术特征摘要】

1.一种强流电子束的测量装置，其特征在于：包括由上至下依次分布的石墨吸收体阵列(2)、聚四氟乙烯绝热板(3)、管组(4)和铜质支撑板(7)；

2.根据权利要求1所述的强流电子束的测量装置，其特征在于：

3.根据权利要求2所述的强流电子束的测量装置，其特征在于：

4.根据权利要求3所述的强流电子束的测量装置，其特征在于：

5.根据权利要求4所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王朋亮，任书庆，黄涛，
申请(专利权)人：西北核技术研究所，
类型：发明
国别省市：