测定装置和测定方法制造方法及图纸

本发明专利技术实现能抑制成本并且能进行高精度的同步检波的测定装置。测定装置(100)的特征在于，具有：电流产生电路(1)，产生与具有规定频率的参照信号(Ss)对应的交流恒定电流，并将其供给至测定对象物(200)；电压检测电路(2)，检测测定对象物(200)中产生的电压v；信号生成电路(3)，检测流过测定对象物(200)的电流i，生成与电流i同步的二值信号(Sip)；第一同步检波部(6)，基于参照信号(Ss)对电压v进行同步检波，计算出电压v的振幅(|V|)和电压相位差φv；第二同步检波部(7)，基于参照信号(Ss)对二值信号(Sip)进行同步检波，计算出电流相位差φi；以及运算部(8)，基于电压的振幅(|V|)和电压相位差φv、电流相位差φi、电流的振幅(|I|)，对测定对象物的电特性进行计算。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及测定装置和测定方法，例如涉及对测定对象物的电特性进行测定的测定装置和测定方法。

技术介绍

1、以往，已知有通过同步检波来对测定对象物(以下也称为“dut：device undertest”)的阻抗等电特性进行测定的电感电容电阻测量仪(lcr meter)、电容测量仪(cmeter)以及电池测试器等测定装置(参照专利文献1)。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1：日本特开2020-76600号公报

技术实现思路

1、专利技术所要解决的问题

2、以往，作为测定器所采用的同步检波的方式，已知有以下所示的两种方式。

3、第一方式是将对dut施加信号时的流过dut的电流和dut中产生的电压分别转换为数字信号，通过fpga(field programmable gate array：现场可编程门阵列)或mcu(microcontroller unit：微控制单元)等进行基于数字信号处理的同步检波的方式。以下，也将第一方式称为“数字方式的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测定装置，具有：

2.根据权利要求1所述的测定装置，其中，

3.根据权利要求1或2所述的测定装置，其中，

4.根据权利要求1至3中任一项所述的测定装置，其中，

5.一种测定方法，包括以下步骤：

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种测定装置，具有：

2.根据权利要求1所述的测定装置，其中，

3.根据权利要求1或2所述的测定...

【专利技术属性】
技术研发人员：羽田一暁，横山智大，
申请(专利权)人：日置电机株式会社，
类型：发明
国别省市：