【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于数控机床误差测量领域，具体涉及一种数控机床全闭环进给系统热膨胀误差快速测量方法。
技术介绍
1、目前高档数控机床均为配有高精度光栅的全闭环进给系统，其热膨胀误差主要是由于光栅的热变形导致的。机床运动过程中，在机床摩擦热、切削热、电机散热、环境温度变换等热源的作用下，光栅温度发生变化，从而产生热变形与热误差，影响零件加工精度。热误差数据测量技术是热误差补偿的基础。要获得高精度和高鲁棒性的热误差模型，就要求热误差测量技术测量出真实准确的机床热误差数值。数控机床热误差测量技术主要包括采集由机床关键运动部件热变形产生的误差量以及相关热源附近的温度值。在热误差数据测量过程中，机床需要停止加工，然后利用温度传感器、激光干涉仪、电涡流位移传感器等开展多次的热误差测量与温度采集，整个过程需要持续数天，测量效率不高，这对于多数企业来说是不可接受的。
技术实现思路
1、针对现有技术中存在的不足之处，本专利技术提供了一种数控机床全闭环进给系统热膨胀误差快速测量方法，以提高在实际测量过程中热误差的测...
【技术保护点】
1.一种数控机床全闭环进给系统热膨胀误差快速测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种数控机床全闭环进给系统热膨胀误差快速测量方法，其特征在于，步骤1)的光栅温度场模型初步建立，具体为：将光栅沿读数头运动方向简化为一维模型，并将光栅温度场模型的建立简化为一维热传导问题，建立光栅一维导热微分方程，如下式：
3.根据权利要求1所述的一种数控机床全闭环进给系统热膨胀误差快速测量方法，其特征在于，步骤2)的光栅热误差模型初步建立，具体为：基于初步建立的光栅温度场模型，通过光栅的线性热膨胀计算出光栅的一维热变形，初步建立光栅...
【技术特征摘要】
1.一种数控机床全闭环进给系统热膨胀误差快速测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种数控机床全闭环进给系统热膨胀误差快速测量方法，其特征在于，步骤1)的光栅温度场模型初步建立，具体为：将光栅沿读数头运动方向简化为一维模型，并将光栅温度场模型的建立简化为一维热传导问题，建立光栅一维导热微分方程，如下式：
3.根据权利要求1所述的一种数控机床全闭环进给系统热膨胀误差快速测量方法，其特征在于，步骤2)的光栅热误差模型初步建立，具体为：基于初步建立的光栅温度场模型，通过光栅的线性热膨胀计算出光栅的一维热变形，初步建立光栅热误差模型，如下式所示：
4.根据权利要求1所述的一种数控机床全闭环进给系统热膨胀误差快速测量方法，其特征在于，步骤3)的光栅温度场模型、热误差模型热特性参数辨识，具体为：光栅温度场模型与热误差模型初步建立后，通过温度传感器与激光干涉仪测量前30分钟内光栅不同位置、时刻的温度数据θ1(x1,t1)、θ2(x2,t2)、...、θn(xn,tn)与热误差数据e1(x1,t1)、e2(x2,t2)、...、en(xn,tn)，将(x1,t1)、(x2,...
【专利技术属性】
技术研发人员：李国龙，王龙，李喆裕，徐凯，宁行，
申请(专利权)人：重庆大学，
类型：发明
国别省市：
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