一种定位MPI的方法以及相关设备技术

技术编号:41795779 阅读:27 留言:0更新日期:2024-06-24 20:20
本申请实施例公开了一种定位MPI的方法以及相关设备,用于对光纤链路中出现MPI的位置进行定位,以便进行人工清理。本申请实施例方法包括:MCU根据均衡器输出的信号获取第一噪声信号。MCU确定第一噪声信号的跳窗平均值的正负号。MCU将第一噪声信号与正负号相乘,以得到第二噪声信号。MCU根据第二噪声信号确定反射距离,反射距离用于指示光纤链路中导致MPI的两个光纤连接点之间的距离。

【技术实现步骤摘要】

本申请实施例涉及光通信领域,尤其涉及一种定位mpi的方法以及相关设备。


技术介绍

1、在光纤链路中往往会存在多路干扰(multi path interference,mpi),mpi是指光信号在光纤连接点之间来回反射所产生的干扰。若mpi过大,容易造成误码率上升,甚至通信中断。

2、在现有技术中,可以通过接收光功率以及误码率确定mpi的大小,然而无法准确定位出mpi所产生的位置。


技术实现思路

1、本申请提供了一种定位mpi的方法以及相关设备,用于对光纤链路中出现mpi的位置进行定位,以便进行人工清理。

2、本申请第一方面提供了一种定位mpi的方法:

3、微处理单元(microcontroller unit,mcu)根据均衡器输出的信号获取第一噪声信号,mcu与均衡器设置于第一光网络设备,第一光网络设备与第二光网络设备之间设置光纤链路,均衡器用于对第二光网络设备通过光纤链路发送的信号进行处理。mcu确定第一噪声信号的跳窗平均值的正负号,mcu将第一噪声信号与正负号相乘,以得本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种定位多径干扰MPI的方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述MCU根据所述第二噪声信号确定反射距离包括:

5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述MCU根据所述第二噪声信号确定反射距离包括:

6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述MCU对所述第二噪声信号以及所述目标信号求相关,还获取第一相关峰高度;

7.根据权利要求1至6...

【技术特征摘要】

1.一种定位多径干扰mpi的方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述mcu根据所述第二噪声信号确定反射距离包括:

5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述mcu根据所述第二噪声信号确定反射距离包括:

6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述mcu对所述第二噪声信号以及所述目标信号求相关,还获取第一相关峰高度;

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法,其特征在于,所述mcu根据均衡器输出的信号获取第一噪声信号包括:

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述mcu将所述第一噪声信号与所述正负号相乘,以得到第二噪声信号包括:

9.一种确定光纤链接的方法,其特征在于,包括:

10.一种确定空闲端口的方法,其特征在于,包括:

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【专利技术属性】
技术研发人员:尚冬冬
申请(专利权)人:华为技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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