一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台制造技术

本发明专利技术公开了一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台，涉及高压物理实验技术和材料物性测量技术领域，包括上料机构，所述上料机构一端设置有二号安装架，所述二号安装架上部固定连接有测试机构，所述测试机构一侧设置有加压机构。本发明专利技术通过转动一号摇把带动一号丝杆进行转动，对一号连接块的位置进行调节，从而对一号连接板上部的数据采集器和测量仪器的左右位置进行调节，同时，通过转动二号摇把带动二号丝杆进行转动，对二号连接块的位置进行调节，从而对二号连接板及其上部的数据采集器和测量仪器进行前后位置进行移动，便于对数据采集器和测量仪器的位置进行充分的调节，从而对待检测样品的测量数据进行充分的测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及高压物理实验技术和材料物性测量，具体为一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台。

技术介绍

1、磁光克尔效应是一种通过磁场调控光的偏振状态来研究材料磁性的现象，为了测量磁光克尔效应，需要一个高压样品测试台来在不同压力下进行实验。

2、现有技术中，如中国专利公告号为：cn207301301u的“一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台”，套筒内侧面和位移管外侧面均有特殊设计的斜方螺纹，用于对碳化钨顶砧施压的压紧装置的活动结构也采用斜方螺纹，使得在低温环境下光纤与顶砧的压紧装置的热力学形变较为一致，使光路调节更精密；导电玻璃电极板厚度100微米由铟锡氧化物制成、且其表面覆盖有硅烯镀膜；样品位于特氟龙环中心，特氟龙环外圈套有不锈钢环，不锈钢环外圈套有上下两部分组成的铝垫圈，不锈钢环和特氟龙环均具有径向透孔，铜线置于铝垫圈的上下两部分之间，金线穿过不锈钢环和特氟龙环的径向透孔，一端连接样品、另一端连接铜线，特氟龙环和样品之间区域具有支撑金线的颗粒。

3、但现有技术中，测试台在对样品进行放置测量时，测量仪器的位置难以进行精确的调本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台，包括上料机构(1)，所述上料机构(1)一端设置有二号安装架(3)，所述二号安装架(3)上部固定连接有测试机构(4)，所述测试机构(4)一侧设置有加压机构(5)，所述加压机构(5)与二号安装架(3)固定连接，其特征在于：

2.根据权利要求1所述的一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台，其特征在于：所述上料机构(1)包括上料架(11)，所述上料架(11)上部安装有输送带(12)。

3.根据权利要求1所述的一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台，其特征在于：所述上料机构(1)包括一号安装架(13)，所述一号安装架(13)...

【技术特征摘要】

1.一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台，包括上料机构(1)，所述上料机构(1)一端设置有二号安装架(3)，所述二号安装架(3)上部固定连接有测试机构(4)，所述测试机构(4)一侧设置有加压机构(5)，所述加压机构(5)与二号安装架(3)固定连接，其特征在于：

2.根据权利要求1所述的一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台，其特征在于：所述上料机构(1)包括上料架(11)，所述上料架(11)上部安装有输送带(12)。

3.根据权利要求1所述的一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台，其特征在于：所述上料机构(1)包括一号安装架(13)，所述一号安装架(13)上部安装有上料机械臂(14)，所述上料机械臂(14)一端安装有固定板(15)，所述固定板(15)底部安装有上料吸盘组件(16)，所述上料吸盘组件(16)底部吸附有待检测样品(2)。

4.根据权利要求1所述的一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台，其特征在于：所述一号丝杆(42)一端固定连接有一号摇把(43)。

5.根据权利要求1所述的一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台，其特征在于：所述一号连接架(41)上部固定连接有一号导轨(46)，所述一号导轨(46)表面滑动连接有一号滑块(47)，所述一号滑块(47)与一号连接板(45)固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台，其特征在于：所述一号连接架(41)侧面固定连接有二号导轨(48)，所述二号导轨(48)内部滑动连接有二号滑块(49)，所述二号滑块(49)上部固定连接有固定块(410)，所述固定块(410)与一号连接板(45)侧面固定连接。

7.根据权利要求1所述的一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台，其特征在于：所述二号丝杆(411)一端固定连...

【专利技术属性】
技术研发人员：滕诣迪，陈玲，杨希峰，卞九辉，和明，张德宝，顾晨，狄魁，侯永超，何臻昀，陈柏全，
申请(专利权)人：常熟理工学院，
类型：发明
国别省市：