【技术实现步骤摘要】
本技术涉及集成电路,尤其涉及集成电路用测试载板。
技术介绍
1、集成电路是一种微电子器件,也被称为芯片,它是一种电子元件,用于在一个小而紧凑的芯片上集成多个电子元件(如晶体管、电容器、电阻器、二极管等)以执行各种电路功能,集成电路的设计和制造允许在一个单一的硅片或其他半导体材料上制造成千上万个电子元件,从而实现了高度的集成度和复杂性,而测试载板是一种用于测试集成电路或其他电子器件的工具或设备。它被设计用来容纳并连接被测试的芯片或器件,以便对其进行功能性、电性能或其他相关特性的测试。
2、但现有部分集成电路用测试载板无法同时对两个测试载板进行测试,且在测试过程中无法对测试载板进行有效的固定夹持,进而大大降低了检测效率和测试精度以及现有部分测试载板不便于调节高度,因此针对以上不足,提出了集成电路用测试载板。
技术实现思路
1、本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的集成电路用测试载板,旨在改善现有部分集成电路用测试载板无法同时对两个测试载板进行检测和夹持不够稳定以及现有
...【技术保护点】
1.集成电路用测试载板,包括底板(1),其特征在于:所述底板(1)的顶部左右两侧均固定连接有支撑板(2),两个所述支撑板(2)的顶部固定连接有工作台(3),所述工作台(3)的顶部前侧设置有驱动组件,所述驱动组件的后侧固定连接有滑块(6),所述滑块(6)的底部滑动连接有滑板一(7),所述滑块(6)的顶部左右两侧均转动连接有转动杆一(8),两个所述转动杆一(8)的前侧均转动连接有滑动块(9),两个所述滑动块(9)的底部滑动连接有滑板二(10),两个所述滑动块(9)的顶部均固定连接有夹板(11),两个所述滑板二(10)的左右两端均固定连接有固定板(12),所述工作台(3)的
...【技术特征摘要】
1.集成电路用测试载板,包括底板(1),其特征在于:所述底板(1)的顶部左右两侧均固定连接有支撑板(2),两个所述支撑板(2)的顶部固定连接有工作台(3),所述工作台(3)的顶部前侧设置有驱动组件,所述驱动组件的后侧固定连接有滑块(6),所述滑块(6)的底部滑动连接有滑板一(7),所述滑块(6)的顶部左右两侧均转动连接有转动杆一(8),两个所述转动杆一(8)的前侧均转动连接有滑动块(9),两个所述滑动块(9)的底部滑动连接有滑板二(10),两个所述滑动块(9)的顶部均固定连接有夹板(11),两个所述滑板二(10)的左右两端均固定连接有固定板(12),所述工作台(3)的底部左右两侧均开设有滑动槽(13)。
2.根据权利要求1所述的集成电路用测试载板,其特征在于:所述底板(1)的底部左侧固定连接有壳体(14),所述壳体(14)的内部安装有电机(15),所述电机(15)的输出端固定连接有双向螺纹杆(16),所述双向螺纹杆(16)的左右两端均螺纹连接有螺纹块(17),两个所述螺纹块(17)的前后两侧均转动连接有转动杆二(18),多个所述转动杆二(18)的顶部转动连接有两个固定盘(19),所述底板(1)的底部四角均固定连接有立柱(20)。
【专利技术属性】
技术研发人员:甘磊,谭军,蔡浩,
申请(专利权)人:深圳市鑫驰泰科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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