钙钛矿薄膜与制备、及包含其的光电器件制造技术

技术编号:41789126 阅读:19 留言:0更新日期:2024-06-24 20:16
本发明专利技术公开一种钙钛矿薄膜与制备、及包含其的光电器件,二维钙钛矿基元、气相沉积于二维钙钛矿基元的三维钙钛矿基元,三维钙钛矿基元沿001晶面取向生长,通过二维钙钛矿诱导改变前驱体碘化铅薄膜取向,使得碘化铅晶体在001晶面取向生长,从而制备晶体定向排列的三维钙钛矿薄膜,改善载流子传输层,器件效率得以提高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光电,尤其涉及一种钙钛矿薄膜与制备、及包含其的光电器件


技术介绍

1、钙钛矿薄膜结晶调控在钙钛矿太阳能电池
具有重要的研究意义。

2、目前,钙钛矿薄膜的制备方法主要包括溶液法和气相沉积两类。溶剂法通过添加剂工程、溶剂工程等实现对钙钛矿薄膜择优取向的调控,但因其均一性差、使用有毒溶剂、难以大面积制备,不适合商业化大规模生产。气相沉积法制备的钙钛矿薄膜具有良好的均一性、无需使用有毒溶剂、适合大面积,有较大商业化生产潜力。但现有气相法工艺所制备的钙钛矿晶粒排列杂乱无序,难以控制,无法获得高质量按照特定方向排列的钙钛矿薄膜,气相沉积法制备的钙钛矿薄膜存在缺陷态密度高,载流子传输效果不好的问题。

3、因此,需要提供一种具有择优取向的钙钛矿薄膜的技术方案,改善钙钛矿薄膜的载流子传输。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请提供一种钙钛矿薄膜与制备、及包含其的光电器件,用于解决如何改善钙钛矿薄膜的载流子传输的问题。

2、为达到上述技术目的,本申请采用以下技术方案:...

【技术保护点】

1.一种钙钛矿薄膜,其特征在于,包括二维钙钛矿基元、气相沉积于所述二维钙钛矿基元的三维钙钛矿基元,所述三维钙钛矿基元沿001晶面取向生长。

2.根据权利要求1所述的钙钛矿薄膜,其特征在于,所述二维钙钛矿的厚度为1-1000nm。

3.根据权利要求1所述的钙钛矿薄膜,其特征在于,所述二维钙钛矿基元包括Ruddlesden-Popper相钙钛矿、Dion-Jacobson相钙钛矿、ACI相钙钛矿中的一种或几种。

4.一种如权利要求1-3任一项所述的钙钛矿薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

5.根据权利要求4所述的钙钛矿薄膜的制备方法,其...

【技术特征摘要】

1.一种钙钛矿薄膜,其特征在于,包括二维钙钛矿基元、气相沉积于所述二维钙钛矿基元的三维钙钛矿基元,所述三维钙钛矿基元沿001晶面取向生长。

2.根据权利要求1所述的钙钛矿薄膜,其特征在于,所述二维钙钛矿的厚度为1-1000nm。

3.根据权利要求1所述的钙钛矿薄膜,其特征在于,所述二维钙钛矿基元包括ruddlesden-popper相钙钛矿、dion-jacobson相钙钛矿、aci相钙钛矿中的一种或几种。

4.一种如权利要求1-3任一项所述的钙钛矿薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

5.根据权利要求4所述的钙钛矿薄膜的制备方法,其特征在于,所述加热反应的气压为0.1-1000pa。

6.根据权利要求4所述的钙钛矿薄膜的制备方法,...

【专利技术属性】
技术研发人员:库治良段昌豫
申请(专利权)人:武汉理工大学
类型:发明
国别省市:

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