【技术实现步骤摘要】
本技术涉及阻抗检测探头，特别涉及一种芯片阻抗检测探头。
技术介绍
1、随着集成电路以及芯片等规模集成电路组成的成型芯片规模的增大，很多集成电路都已经集成数万颗晶体管，甚至数千万晶体管电路组成的大规模集成电路，内部结构复杂，形成多个数据集成模块组成，在使用过程中，遇到故障或者出现芯片异常，需要故障诊断和定位的检测方法或者装置。
2、芯片在加工完成后，需要对其进行相应的电性能测试，以检测芯片是否合格，其中，对芯片的阻抗测试是必须检测的重要项目。现有通用技术中的芯片阻抗测试器通常包括探头主体、设置于探头主体一端的接线柱、设置于探头主体另一端的探针以及设置于探头主体内并与接线柱和探针均电连接的电路板，芯片阻抗测试器使用完毕后，探针裸露在外，探针自身比较脆弱，容易碰到较硬的物体而发生损坏，因此，需要对相关技术进行改进。
技术实现思路
1、为了解决上述问题，本技术提供一种芯片阻抗检测探头。
2、本技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种芯片阻抗检测探头，包括探头主体...
【技术保护点】
1.一种芯片阻抗检测探头，包括探头主体(1)、设置于探头主体(1)一端的接线柱(11)、设置于探头主体(1)另一端的探针(12)以及设置于探头主体(1)内并与接线柱(11)和探针(12)均电连接的电路板(4)，其特征是：所述探头主体(1)远离接线柱(11)的一端设置有供探针(12)穿过的穿孔(13)，所述探头主体(1)上设置有用于驱使电路板(4)沿朝向靠近接线柱(11)的一侧运动的驱动组件(2)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片阻抗检测探头，其特征是：所述探头主体(1)侧壁靠近探针(12)一端的内壁上设置有安装槽(14)，所述探头主体(1)内设置有与安装...
【技术特征摘要】
1.一种芯片阻抗检测探头，包括探头主体(1)、设置于探头主体(1)一端的接线柱(11)、设置于探头主体(1)另一端的探针(12)以及设置于探头主体(1)内并与接线柱(11)和探针(12)均电连接的电路板(4)，其特征是：所述探头主体(1)远离接线柱(11)的一端设置有供探针(12)穿过的穿孔(13)，所述探头主体(1)上设置有用于驱使电路板(4)沿朝向靠近接线柱(11)的一侧运动的驱动组件(2)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片阻抗检测探头，其特征是：所述探头主体(1)侧壁靠近探针(12)一端的内壁上设置有安装槽(14)，所述探头主体(1)内设置有与安装槽(14)连通的滑槽(15)，所述驱动组件(2)包括与安装槽(14)滑动配合的齿条(21)、与齿条(21)靠近接线柱(11)的一端抵接的弹簧(22)、转动安装于探头主体(1)两侧的内壁之间的转动杆(23)、固定于转动杆(23)端部并位于安装槽(14)内的齿轮(24)、与齿条(21)靠近电路板(4)一侧的侧壁固定的连接块(25)、与连接块(25)端部固定并与电路板(4)卡接配合的u形橡胶块(26)以及固定套设于转动杆(23)上的手轮(27)；
3.根据权利要求2所述的一种芯片阻抗检测探头，其特征是：所述限位组件(3)包括与探头主体(1)内顶部靠近操作...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨德朝，
申请(专利权)人：上海亚锐电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。