一种通用型耐压测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及电测试领域，尤其涉及一种通用型耐压测试装置。一种通用型耐压测试装置，包括基础单元，基础单元包括用于连接外部电源的测试筒体和设置在测试筒体内的测试导体，测试筒体上设置有三个分相接口，通用型耐压测试装置还包括一字型测试单元以及品字型测试单元，分相接口用于连接一字型测试单元或品字型测试单元。基础单元包括测试筒体和测试导体；该装置还包括一字型测试单元以及品字型测试单元，使得该装置仅在更换不同的测试单元后可以对母线一字型排布的产品进行耐压测试，还可以对母线品字形排布的产品进行耐压测试，进而解决了现有技术中测试装置通用性差，对于母线的不同排布形式需要采用不同测试装置，导致成本增加的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电测试领域，尤其涉及一种通用型耐压测试装置。

技术介绍

1、耐压试验就是给产品一个较高的电压，然后维持一段时间，之后在将电压降下，以测试产品所能承受的过电压是否在规定值之内，是测试产品是否合格的一项重要试验。

2、现有技术中做耐压试验一般是将电源接到耐压工装上，通过耐压工装转接到产品上，进而将电压加载到待测产品上。如授权公告号为cn207472906u的中国技术专利公开了一种gis耐压试验工装，该试验工装包括用于和电源进行连接的接入端口，之后通过设置在耐压试验工装上的一字型排布的隔离开关，通过隔离开关上的连接口连接待测产品，当连接好待测产品之后进行试验。

3、然而，在gis设备的三相母线中，三相母线不单单有一字型排布的，还有相互交错呈品字型排布的，两种不同的排布形式往往需要采用不同的工装来进行连接，造成通用性差、试验成本增加。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种通用型耐压测试装置，用于解决现有技术中测试装置通用性差，对于母线的不同排布形式需要采用不同测试装置，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种通用型耐压测试装置，其特征在于：包括基础单元，基础单元包括用于连接外部电源设备的测试筒体和设置在测试筒体内的测试导体，测试筒体上设置有三个分相接口，测试导体包括与测试筒体同轴布置的同轴段和垂直于同轴段且向分相接口延伸的分相段；通用型耐压测试装置还包括用于对一字型排布的待测导体进行耐压测试的一字型测试单元以及用于对品字型排布的待测导体进行耐压测试的品字型测试单元，分相接口用于连接一字型测试单元或品字型测试单元；一字型测试单元包括呈一字型排布的第一输出筒体以及设置在各第一输出筒体内且与对应的分相导体导通的第一输出导体，品字型测试单元包括呈品字型排布的第二输出筒体以及设置在各第二输出筒...

【技术特征摘要】

1.一种通用型耐压测试装置，其特征在于：包括基础单元，基础单元包括用于连接外部电源设备的测试筒体和设置在测试筒体内的测试导体，测试筒体上设置有三个分相接口，测试导体包括与测试筒体同轴布置的同轴段和垂直于同轴段且向分相接口延伸的分相段；通用型耐压测试装置还包括用于对一字型排布的待测导体进行耐压测试的一字型测试单元以及用于对品字型排布的待测导体进行耐压测试的品字型测试单元，分相接口用于连接一字型测试单元或品字型测试单元；一字型测试单元包括呈一字型排布的第一输出筒体以及设置在各第一输出筒体内且与对应的分相导体导通的第一输出导体，品字型测试单元包括呈品字型排布的第二输出筒体以及设置在各第二输出筒体内且与对应的分相导体导通的第二输出导体。

2.根据权利要求1所述的通用型耐压测试装置，其特征在于：所述测试筒体水平布置，基础单元还包括连接在各分相接口上且竖直布置的隔离开关，隔离开关的上端或下端为用于直接或间接连接一字型测试单元和品字型测试单元的连接端。

3.根据权利要求2所述的通用型耐压测试装置，其特征在于：所述基础单元还包括连接在各隔离开关上端且竖直设置的过渡筒体以及设置在过渡筒体内的过渡导体。

4.根据权利要求3所述的通用型耐压测试装置，其特征在于：所述品字型测试单元包括连接在中间相过渡筒体上方的中间筒体以及分别连接在另外两相过渡筒体上方的左转弯筒体和右转弯筒体；中间筒体呈t形，包括垂直连通的竖直段和水平段，中间筒体的水平段构成中间相的第二输...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵恒，卢鹏，薛红涛，王晓磊，赵海洋，马延柯，张志鹏，张振飞，包伟，陈德金，赵楠，杨向龙，
申请(专利权)人：河南平高电气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：