监测X射线管的状态制造技术

技术编号:41753205 阅读:20 留言:0更新日期:2024-06-21 21:36
提供了用于监测X射线管(100)的状态的系统和方法。所述方法包括:从传感器阵列装置(120)接收传感器数据,所述传感器阵列装置被定位为观察所述X射线管的阳极(102)的表面的至少部分;处理接收到的传感器数据以识别和量化对所述阳极的表面损伤;连同时间戳一起存储经识别和量化的表面损伤;以及将经识别和量化的表面损伤与在所述X射线管的操作历史记录中的且在与所述时间戳相对应的时间处和/或在两个时间戳之间的时间处使用的一个或多个使用协议相关。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及用于监测x射线管的状态、用于基于所述监测来控制x射线管,以及用于使用如此控制的x射线管执行成像的系统和方法。


技术介绍

1、x射线管用于各种医疗和工业成像过程。高功率x射线管通常包括旋转阳极盘,作为电子束的靶标。在使用期间,阳极盘上的靶标区经历高热应力,从而导致以微裂纹和表面粗糙化形式的机械表面损伤或“管老化”。表面损伤会修改发射的x射线能谱,并且导致x射线强度的损失,从而影响成像系统的校准和图像质量。最终将需要更换阳极盘,这将消耗材料和服务资源,并且导致系统停机。

2、wo2016/087394a1涉及一种针对所生成的能谱ct投影数据的系统。能够随时间监测辐射设备的能谱特性,其中,该信息能够用于例如校正能谱计算机断层摄影投影数据,并且/或者,如果指示辐射设备的不期望的能谱特性,则触发对辐射设备的更换。

3、us2013/0223594a1涉及确定x射线管的x射线发射产量的变化,特别是确定剂量劣化。x射线传感器被布置在射束形成单元内,并且测量针对具有相对于中心轴的角度的x射线发射的特定方向的x射线强度。剂量劣化可以是阳本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于监测X射线管的状态的方法,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述相关包括确定针对所述使用协议中的至少一个的每个协议的所述表面损伤的严重程度。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其中,所述相关包括确定针对所述使用协议中的至少一种组合的所述表面损伤的严重程度。

4.根据任一前述权利要求所述的方法,其中,处理接收到的传感器数据以识别对所述阳极的表面损伤包括执行使用接收到的传感器数据进行的X射线强度监测。

5.根据任一前述权利要求所述的方法,其中,处理接收到的传感器数据以识别对所述阳极的表面损伤包括执行使用接收到的传感...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种用于监测x射线管的状态的方法,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述相关包括确定针对所述使用协议中的至少一个的每个协议的所述表面损伤的严重程度。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其中,所述相关包括确定针对所述使用协议中的至少一种组合的所述表面损伤的严重程度。

4.根据任一前述权利要求所述的方法,其中,处理接收到的传感器数据以识别对所述阳极的表面损伤包括执行使用接收到的传感器数据进行的x射线强度监测。

5.根据任一前述权利要求所述的方法,其中,处理接收到的传感器数据以识别对所述阳极的表面损伤包括执行使用接收到的传感器数据进行的x射线能谱监测。

6.根据任一前述权利要求所述的方法,还包括识别阳极老化中的空间不对称性。

7.根据任一前述权利要求所述的方法,其中,对接收到的传感器数据的所述处理是实时执行的,所述方法还包括响应于检测到所述表面损伤的急性进展和/或急性程度而发出警告。

8.根据任一前述权利要求所述的方法,其中,对接收到的传感器数据的所述处理是实时执行的,所述方法还包括基于接收到的传感器数据中的高和/或低强度水平来检测高电压生成器性能变化。

9.根据权利要求8所述的方法,其中...

【专利技术属性】
技术研发人员:K·J·恩格尔G·福格特米尔
申请(专利权)人:皇家飞利浦有限公司
类型:发明
国别省市:

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