【技术实现步骤摘要】
本公开专利技术总体上涉及时间数字转换器(tdc)电路，并且在具体的实施例中，涉及具有自测试功能的tdc电路以及具有所公开的tdc电路的飞行时间(tof)成像器。
技术介绍
1、飞行时间(tof)成像器(也被称作tof传感器)近来已经被广泛地用于各种应用，诸如手势/面部识别、光检测和测距(lidar)、虚拟现实、增强现实和自主机器人。为了测量物体，tof传感器朝向物体发送光信号，并且测量信号传播到物体并且返回所花费的时间。
2、单光子雪崩二极管(spad)可以被用作反射光的检测器。一般而言，spad的矩阵作为传感器(例如，spad矩阵)被提供，从而检测反射光脉冲。反射光子可以在spad中通过光电效应产生载流子。光子产生的载流子可以在spad矩阵中的一个或多个spad中触发雪崩电流。雪崩电流可以用信号通知事件，即光子已经被检测。与反射强度相关的信息也被称作“信号计数”，被作为spad矩阵的直方图输出。每个spad的直方图包括多个直方图箱(bin)。其中每个直方图箱对应于距spad矩阵的距离(或窄的距离范围)，并且每个直方图箱的值...
【技术保护点】
1.一种时间数字转换器TDC电路，具有自测试功能，所述TDC电路包括：
2.根据权利要求1所述的TDC电路，其中所述D触发器的所述控制端是低有效设置端，所述低有效设置端在所述控制端处于逻辑低状态时将所述D触发器的输出端设置为逻辑高状态。
3.根据权利要求2所述的TDC电路，其中在所述TDC电路的自测试模式期间，所述TDC电路的所述使能信号被配置为保持在所述逻辑高状态，所述数据信号被配置为保持在所述逻辑低状态，并且所述测试信号被配置为在第一预定时刻从所述逻辑高状态改变为所述逻辑低状态。
4.根据权利要求3所述的TDC电路，其中在所述自...
【技术特征摘要】
1.一种时间数字转换器tdc电路，具有自测试功能，所述tdc电路包括：
2.根据权利要求1所述的tdc电路，其中所述d触发器的所述控制端是低有效设置端，所述低有效设置端在所述控制端处于逻辑低状态时将所述d触发器的输出端设置为逻辑高状态。
3.根据权利要求2所述的tdc电路，其中在所述tdc电路的自测试模式期间，所述tdc电路的所述使能信号被配置为保持在所述逻辑高状态，所述数据信号被配置为保持在所述逻辑低状态，并且所述测试信号被配置为在第一预定时刻从所述逻辑高状态改变为所述逻辑低状态。
4.根据权利要求3所述的tdc电路，其中在所述自测试模式期间，所述测试信号还被配置为：
5.根据权利要求3所述的tdc电路，其中在所述tdc电路的正常操作模式期间，所述tdc的所述使能信号被配置为保持在所述逻辑高状态，并且所述测试信号被配置为保持在所述逻辑高状态。
6.根据权利要求3所述的tdc电路，还包括测试信号发生器，所述测试信号发生器被配置为生成所述测试信号。
7.根据权利要求6所述的tdc电路，还包括输入/输出i/o接口，所述i/o接口被配置为接收外部测试信号作为所述测试信号。
8.一种时间数字转换器tdc电路，具有自测试功能，所述tdc电路包括：
9.根据权利要求8所述的tdc电路，其中所述第一多个d触发器的所述控制端是低有效设置端，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：J·K·莫雷，G·S·鲍尔，
申请(专利权)人：意法半导体国际公司，
类型：发明
国别省市：
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