The invention discloses a method and device for testing electronic micro mirror device, testing device comprises a core logic function verification circuit; a high speed data memory; a control signal generator; a test signal generator and a test signal detector; test method: the core logic function verification circuit receives the instruction, produce raw data frame and storage, then the original data frame is the core logic function verification circuit calculation is converted to a data frame, the signal sent to the device being tested is a serial data frame; the measured device receives the serial bit data frame, the corresponding unit generates the set or reset signal detector by test; the test set or reset, and stored in the data memory, get the effect of the data frame; the device being tested to determine whether the normal function and so Obstacle location. The invention provides an effective detection and verification tool for mass production of electronic micro mirror devices, which is not available in commercial IC testing equipment at present.
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试
，特别是一种电子微镜集成电路芯片(简称AMD芯片) 的测试系装置和方法。
技术介绍
数字微镜器件是一种涉及微电子制造，微电子机械，集成电路设计，图像处理，精 密光学以及高速数据传输和高速数据接收和处理的一种高技术元件；其应用领域包括通 信系统(作为光纤主干网交换机核心器件)、消费电子(电视机、投影机、立体显示以及未来 3G手机电视显示部件)、工业制造(精密机械的3D定位)、军事(卫星成像夜视仪、战斗机 头盔显示)、医疗卫生(内窥镜等)；但是，数字微镜器件也有其不足之处，就是其接口驱动 电路工作频率非常高(750Mhz)，集成电路的测试非常困难，批量生产的测试更困难；市场 上没有专门的设备可供选用。 DMD是(digital micro-mirror device)数字微镜半导体器件的縮写，是美国 德克萨司仪器公司的专利技术；利用DMD技术进行数字光源处理，S卩(Digital Light Processing )(简称DLPTM)，在信息投影与显示方面开创了一个显示的新方法，其特点是反 射性、无缝影像、数字化、更小/更轻、更亮；AMD芯...
【技术保护点】
一种电子微镜器件的测试装置，其特征在于该装置包括： 一核心逻辑功能验证电路，用于装置控制与计算核心； 一高速数据存储器，连接到核心逻辑功能验证电路，用于存储原始数据幀、位数据幀和位效果数据幀； 一控制信号产生器，连接到核心逻辑功能验证电路，根据外部输入触发信号产生信息交换信号； 一测试信号发生器，连接到核心逻辑功能验证电路，并发送测试信号至被测电子微镜器件；其中测试信号中包含原始数据幀和位数据幀，而位数据幀由原始数据幀进行运算所得； 以及一测试信号检测器，连接到核心逻辑功能验证电路，并接收被测电子微镜器件返回信号； 所述核心逻辑功能验证电...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘一清，王淑仙，李小进，张应均，
申请(专利权)人：华东师范大学，
类型：发明
国别省市：31[]
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