具有电压驻波比调节的射频测试装置及相应方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及具有电压驻波比调节的射频测试装置及相应方法。提供了一种用于测试被测设备的具有电压驻波比调节的射频测试装置。该射频测试装置包括：输入端；输出端；信号源，用于通过输出端为被测设备提供测试信号，从而形成输出信号路径；信号接收器，用于通过输入端接收来自被测设备的接收信号，从而形成输入信号路径；以及跟踪发生器。在这种情况下，跟踪发生器和/或信号接收器被配置为确定输入端和/或输出端处的相应电压驻波比。此外，信号源被配置为基于输出端和/或输入端处的相应电压驻波比来预均衡测试信号。除此之外或作为替选，信号接收器被配置为基于输入端和/或输出端处的相应电压驻波比来对接收信号进行后校正。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及射频测试装置和相应的射频测试方法。特别地，本专利技术涉及用于测试被测设备(device under test，dut)的具有电压驻波比调节的射频测试装置和用于测试被测设备的具有电压驻波比调节的射频测试方法。

技术介绍

1、通常，在使用射频电路的应用数量不断增加的情况下，对用于测试包括这种应用的被测设备的具有电压驻波比调节的射频测试装置和具有电压驻波比调节的射频测试方法的需求也在增长，从而以高度准确和高效的方式验证所述应用的正确功能，其中所有的系统误差都可以得到补偿。

2、然而，这种用于测试被测设备的具有电压驻波比调节的射频测试装置和用于测试被测设备的具有电压驻波比调节的射频测试方法都是未知的。

技术实现思路

1、因此，需要提供一种用于测试被测设备的具有电压驻波比调节的射频测试装置和用于测试被测设备的具有电压驻波比调节的射频测试方法，其中，不仅测试是高度准确和高效的，而且所有系统误差(示例性地包括：来自测试装置内的信号路径、测试装置与dut之间的布线、连接和模拟部件的系统误差)，都可以本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于测试被测设备的具有电压驻波比调节的射频测试装置，所述射频测试装置包括：

2.根据权利要求1所述的射频测试装置，

3.根据权利要求2所述的射频测试装置，

4.根据权利要求1所述的射频测试装置，

5.根据权利要求4所述的射频测试装置，

6.根据权利要求1所述的射频测试装置，

7.根据权利要求6所述的射频测试装置，

8.根据权利要求1所述的射频测试装置，

9.根据权利要求8所述的射频测试装置，

10.根据权利要求1所述的射频测试装置，

11.根据权利要求1所述的射...

【技术特征摘要】

1.一种用于测试被测设备的具有电压驻波比调节的射频测试装置，所述射频测试装置包括：

2.根据权利要求1所述的射频测试装置，

3.根据权利要求2所述的射频测试装置，

4.根据权利要求1所述的射频测试装置，

5.根据权利要求4所述的射频测试装置，

6.根据权利要求1所述的射频测试装置，

7.根据权利要求6所述的射频测试装置，

8.根据权利要求1所述的射频测试装置，

9.根据权利要求8所述的射频测试装置，

10.根据权利要求1所述的射频测试装置，

11.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：C·库恩，亚历山大·罗斯，弗洛里安·拉米安，
申请(专利权)人：罗德施瓦兹两合股份有限公司，
类型：发明
国别省市：