光检测装置、光检测系统及滤波器阵列制造方法及图纸

本发明专利技术提供光检测装置、光检测系统及滤波器阵列。光检测装置具备：滤波器阵列，包括配置在二维平面内的多个滤波器；以及图像传感器，配置在接受透射了滤波器阵列的光的位置，多个滤波器包括第1滤波器、以及透射光谱与第1滤波器不同的第2滤波器，第1滤波器以及第2滤波器分别包括第1反射层、第2反射层、以及第1反射层与第2反射层之间的中间层，第1反射层包括：多个第1电介质层；以及多个第2电介质层，分别具有比多个第1电介质层各自的折射率高的折射率，在第1反射层中，多个第1电介质层与多个第2电介质层交替地配置，多个第1电介质层中的至少两个具有相互不同的光学长度，多个第2电介质层中的至少两个具有相互不同的光学长度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光检测装置、光检测系统及滤波器阵列。

技术介绍

1、通过利用分别为窄带的多个波段(band)、例如几十个波段的光谱信息，能够掌握通过以往的rgb图像不能掌握的对象物的详细的物性。取得这样的多波长的信息的相机被称作“超光谱相机”。例如，如在专利文献1至5中公开那样，超光谱相机在食品检查、生物体检查、医药品开发及矿物的成分分析等各种领域中被利用。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1：美国专利申请公开第2016/138975号说明书

5、专利文献2：美国专利第7907340号说明书

6、专利文献3：美国专利第9929206号说明书

7、专利文献4：日本特表2013－512445号公报

8、专利文献5：日本特表2015－501432号公报

技术实现思路

1、专利技术要解决的课题

2、本专利技术提供一种能够提高超光谱相机的波长分辨率的新的光检测装置。

3、用来解决课题的手段

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【技术保护点】

1.一种光检测装置，其中，具备：

2.如权利要求1所述的光检测装置，其中，

3.如权利要求1或2所述的光检测装置，其中，

4.如权利要求1所述的光检测装置，其中，

5.如权利要求1所述的光检测装置，其中，

6.一种光检测系统，其中，具备：

7.一种滤波器阵列，用于光检测装置，其中，

【技术特征摘要】

1.一种光检测装置，其中，具备：

2.如权利要求1所述的光检测装置，其中，

3.如权利要求1或2所述的光检测装置，其中，

4.如权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：石川笃，稻田安寿，
申请(专利权)人：松下知识产权经营株式会社，
类型：发明
国别省市：