【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试，具体而言，涉及一种暗室环境下不同频率场强环境自动测试方法及系统。
技术介绍
1、随着电子设备在日常生活和工作中的广泛应用，磁场对电子设备性能的影响越来越受到关注。在暗室环境下，对不同频率强磁环境进行测试，有助于深入了解磁场对电子设备性能的影响，并为电子设备的设计和优化提供依据。
2、然而，现有的测试方法通常需要人工操作，测试效率低下，且难以保证测试精度。因此，开发一种能够自动进行暗室环境下不同频率强磁环境测试的方法具有重要的实际意义。
技术实现思路
1、本专利技术旨在提供一种暗室环境下不同频率场强环境自动测试方法及系统，以解决上述存在的问题。
2、本专利技术提供的一种暗室环境下不同频率场强环境自动测试方法，包括如下步骤：
3、s100，配置测试仪器，并设置每个测试仪器的连接方式和限制范围值；
4、s200，硬件设置：添加测试频段，通过测试频段筛选出可配置的测试仪器，将筛选出的测试仪器添加至测试线路中对应仪器点，并设置测试线...
【技术保护点】
1.一种暗室环境下不同频率场强环境自动测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的暗室环境下不同频率场强环境自动测试方法，其特征在于，步骤S100中，所述连接方式包括VISA、串口、TCP或UDP。
3.根据权利要求1所述的暗室环境下不同频率场强环境自动测试方法，其特征在于，步骤S100中，所述限制范围值包括：
4.根据权利要求1所述的暗室环境下不同频率场强环境自动测试方法，其特征在于，步骤S200中，所述线损值配置为固定值或通过上传表获取不同频率下的线损值。
5.根据权利要求1所述的暗室环境下不同频率...
【技术特征摘要】
1.一种暗室环境下不同频率场强环境自动测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的暗室环境下不同频率场强环境自动测试方法，其特征在于，步骤s100中，所述连接方式包括visa、串口、tcp或udp。
3.根据权利要求1所述的暗室环境下不同频率场强环境自动测试方法，其特征在于，步骤s100中，所述限制范围值包括：
4.根据权利要求1所述的暗室环境下不同频率场强环境自动测试方法，其特征在于，步骤s200中，所述线损值配置为固定值或通过上传表获取不同频率下的线损值。
5.根据权利要求1所述的暗室环境下不同频率场强环境自动测试方法，其特征在于，步骤s400包...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄世杰，许波，韩梅，乔小斐，李想，
申请(专利权)人：成都四威功率电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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